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深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司

  • 激光干涉儀

    用于SENTECH Instruments等離子系統(tǒng)的SENTECH SLI激光干涉儀端點監(jiān)測器與聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿過等離子系統(tǒng)的頂部視口，并被...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 14:40:33 對比

  • 激光橢圓儀

    SE 401adv 通過映射高達(dá) 200 毫米的液體單元、用于原位測量的液體單元、攝像機(jī)、自動對焦、模擬軟件和經(jīng)過認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)晶圓，可根據(jù)您的需求進(jìn)行調(diào)整。
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 14:31:47 對比

  • 光譜橢偏儀

    SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡單，具有高測量靈敏度、去偏振...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 14:28:12 對比

  • 激光橢圓儀

    多角度激光橢偏儀 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波長為 632.8 nm 時，在紋理單晶和多晶硅片上提供抗反射單膜的膜厚度和折射率。可更換晶圓支架...
    型號： SE 400adv... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 14:18:06 對比

  • 自動光譜反射儀

    SENTECH RM 1000 QC反射儀設(shè)計用于快速簡單地測量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工業(yè)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。該工具涵蓋 20 nm ...
    型號： SENTECH R... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 14:06:57 對比

  • 全自動薄膜質(zhì)量控制

    SENTECH SENDURO®MEMS 提供配置靈活性，以滿足生產(chǎn)控制和質(zhì)量控制的要求。該工具可以配置反射法和橢圓偏振法中的μ點測量，以及提供準(zhǔn)確測...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 11:30:19 對比

  • 薄膜計量光譜儀軟件

    SpectraRay/4 是 SENTECH 專有的光譜橢圓偏振儀軟件，包括橢圓、反射和透射數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集、建模、擬合和擴(kuò)展報告。它支持可變角度、多實驗和組合光...
    型號： SpectraRa... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 11:16:05 對比

  • 薄膜計量紅外光譜橢圓儀

    SENTECH SENDIRA 專為紅外 （FTIR） 而設(shè)計。這款緊湊的臺式儀器包括吹掃橢偏儀光學(xué)元件、計算機(jī)控制的測角儀、水平樣品平臺、自動準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡、商用...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 11:08:43 對比

  • 薄膜計量橢圓光譜儀

    SENTECH SENpro 橢圓偏振光譜儀具有操作簡單、測量速度快、不同入射角橢偏振測量的組合數(shù)據(jù)分析等特點。它的測量光譜范圍為 370 nm 至 1,050...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:50:15 對比

  • 薄膜計量橢圓光譜儀

    SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 橢圓偏振法分別測量高達(dá) 2,500 nm 或 3,500 nm 的近紅外光譜。它提供最寬的光...
    型號： SENresear... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:41:35 對比

  • 薄膜計量激光橢圓儀

    SENTECH SE 500adv結(jié)合了橢圓偏振法和反射法，消除了測量透明薄膜層厚的模糊性。它將可測量的厚度擴(kuò)展到 25 μm。因此，SE 500adv 擴(kuò)展了...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:28:18 對比

  • 薄膜計量光譜反射儀軟件

    FTPadv Expert薄膜測量軟件具有FTPadv標(biāo)準(zhǔn)軟件中包含的用戶友好和以配方為導(dǎo)向的操作概念。突出顯示擬合參數(shù)、測量和計算的反射光譜以及主要結(jié)果的光學(xué)...
    型號： FTPadv Ex... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:24:51 對比

  • 薄膜計量膜厚探頭

    FTPadv是一種經(jīng)濟(jì)高效的臺式光譜反射解決方案，具有快速厚度測量功能。測量時間不到 100 ms，精度低于 0.3 nm，膜厚范圍為 50 nm – 25 μ...
    型號： FTPadv 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:20:09 對比

  • 薄膜計量光譜反射儀

    RM 1000 和 RM 2000 光譜反射儀可測量表面光滑或粗糙的平面或彎曲樣品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單膜或?qū)盈B的厚...
    型號： RM 1000/R... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:09:59 對比

  • 等離子刻蝕集群系統(tǒng)

    SENTECH 集群系統(tǒng)包括等離子體蝕刻和/或沉積模塊、一個轉(zhuǎn)移室和一個真空負(fù)載鎖或盒式站。包括搬運(yùn)機(jī)器人在內(nèi)的轉(zhuǎn)移室有三到六個端口。最多可以使用兩個盒式磁帶站...
    型號： SENTECH 集... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 10:04:54 對比

  • AL實時監(jiān)控器

    SENTECH AL 實時監(jiān)測器是一種經(jīng)過驗證的光學(xué)診斷工具，可實現(xiàn)單個 ALD 和 ALE 周期的超高分辨率。主要應(yīng)用是在不破壞真空的情況下分析薄膜特性（生長...
    型號： SENTECH A... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/5 9:53:27 對比

  • ICP沉積系統(tǒng)

    SENTECH SIPAR ICP沉積系統(tǒng)是為使用靈活的系統(tǒng)架構(gòu)的各種沉積模式和工藝開發(fā)和設(shè)計的。該工具包括 ICP 等離子體源 PTSA、一個動態(tài)溫控基板電極...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/4 17:51:43 對比

  • 開蓋等離子體沉積系統(tǒng)PECVD

    SENTECH Depolab 200 是基本的等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積 （PECVD） 系統(tǒng)，適用于沉積用于蝕刻掩模、膜和電隔離膜以及許多其他材料的介電膜。
    型號： SENTECH D... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/4 17:46:16 對比

  • RIE等離子刻蝕系統(tǒng)

    SENTECH SI 500 CCP 系統(tǒng)使用動態(tài)溫度控制和氦背冷卻，代表了材料蝕刻靈活性的優(yōu)勢。等離子體蝕刻過程中的襯底溫度設(shè)置和穩(wěn)定性是高質(zhì)量蝕刻的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)...
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/4 17:35:38 對比

  • 等離子刻蝕系統(tǒng)RIE

    SENTECH SI 591 緊湊型 RIE 等離子蝕刻系統(tǒng)具有負(fù)載鎖定功能，是氯基和氟基 RIE 的緊湊型解決方案。
    型號： SENTECH S... 所在地：德國 參考價： 面議 更新時間：2024/9/4 17:31:13 對比
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