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元器件高低溫測(cè)試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測(cè)試和其他環(huán)境測(cè)試...
型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/1/7 19:55:51
對(duì)比
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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面議更新時(shí)間:2024/1/7 19:39:13
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型號(hào): AES-4535
所在地:無錫市
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
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蝕刻液冷卻裝置chiller元器件水冷機(jī)半導(dǎo)體高低溫測(cè)試機(jī)高低溫測(cè)試機(jī)
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
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型號(hào): AES-4535
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蝕刻液冷卻裝置chiller元器件水冷機(jī)半導(dǎo)體高低溫測(cè)試機(jī)高低溫測(cè)試機(jī)