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無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司
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  • 半導體晶圓快速冷卻系統 芯片散熱水冷機

    【無錫冠亞】半導體晶圓快速冷卻系統 芯片散熱水冷機,冠亞制冷的半導體控溫chiller主要應用與半導體生產過程中及測試環節的溫度精準控制,40℃以內加熱方式采用...

    型號: FLT-006 所在地:無錫市參考價: ¥156654更新時間:2024/6/7 11:04:32 對比
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  • 半導體晶圓冷卻裝置 硅片循環水冷卻機

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    型號: FLT-004 所在地:無錫市參考價: ¥156655更新時間:2024/6/7 11:00:20 對比
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  • 硅片快速冷卻裝置 晶圓快速水冷機

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    型號: FLT-003 所在地:無錫市參考價: ¥159039更新時間:2024/6/7 10:54:58 對比
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  • 硅片冷卻裝置 單晶硅冷卻冷凍機 冷水機

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    型號: FLT-002 所在地:無錫市參考價: ¥159399更新時間:2024/6/7 10:53:13 對比
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  • 電子元器件循環制冷機 半導體溫控機

    【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能...

    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156595更新時間:2024/1/11 11:32:32 對比
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  • 集成電路板循環制冷機 水冷散熱模組

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  • 元器件循環制冷機 半導體制作過程水冷機

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  • 半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備

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  • 半導體循環制冷機 集成電路水冷散熱模組

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  • 半導體液冷器Chiller FPD制造裝置制冷機

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  • 溫度控制器Chiller 半導體低溫冰水機

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  • 半導體循環冷水機 電子元器件循環制冷機

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    型號: LTS-202 所在地:無錫市參考價: ¥156270更新時間:2024/1/11 10:56:25 對比
    半導體高低溫測試機高低溫氣流循環系統高精度控溫系統半導體測試chiller高低溫溫變測試
  • PCB板高低溫測試chiller選型

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:20:47 對比
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  • 電子芯片高低溫存儲試驗chiller知識

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:19:03 對比
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  • 電子元器件高溫貯存試驗chiller選型條件

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:16:56 對比
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  • 電子芯片高低溫循環檢測chiller故障處理

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:14:48 對比
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  • 閃存Flash高低溫測試chiller的保養常識

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:12:44 對比
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  • 元器件高低溫測試chiller選擇要點

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    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:10:48 對比
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  • 半導體芯片高低溫測試chiller注意事項

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:09:13 對比
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  • 微處理器芯片測試裝置chiller常見故障

    元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環境測試...

    型號: TES-4525 所在地:無錫市參考價: 面議更新時間:2024/1/7 8:06:50 對比
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