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高速相位差測量裝置 RE-200 參考價：面議
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅動部，重復再現性高●...
高速LED光學特性儀 LE series 參考價：面議
●與產線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統●實現最短2ms～的光譜測量（LE-5400）●同以往的產品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型
高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000 參考價：面議
可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。
高感度分光輻射亮度計 HS-1000 參考價：面議
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍...
量子效率測量系統 QE-2100 參考價：面議
測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系統
膜厚量測儀 FE-300 參考價：面議
薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復雜設定，操...
膜厚測量系統 FE-3700/5700 參考價：面議
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
線掃描膜厚儀（離線型） 參考價：面議
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援●實現高精度測量（已取得專zhuan利）●實現高速測量...
線掃描膜厚儀（在線型） 參考價：面議
●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援●實現高精度測量（已獲取專zhuan利）●實現高速測量●不受偏差影響●可...
紫外分光配光測量系統 參考價：面議
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應...
紫外分光輻射照度測量系統 New 參考價：面議
●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器...
紫外分光全光譜光通量測量系統 參考價：面議
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元，可從-110°C進行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源...
相位差測量裝置 RETS-100nx New 參考價：面議
采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備
液晶層間隙量測設備 RETS series 參考價：面議
采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備
橢偏儀 FE-5000/5000S 參考價：面議
●可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數●可分析納米級多層薄膜的厚度●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜●通過可變...
總光譜光通量測量系統 HM/FM series 參考價：面議
●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量●測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準●采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量●測量部分的尺寸（積...
彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES 參考價：面議
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
嵌入式膜厚檢測儀 參考價：面議
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統（專zhuan利 第4834847號）● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統● 可嵌入至各種制造設備。● 實時測...
小角激光散射儀 PP-1000 參考價：面議
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 參考價：面議
以最zui高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應12波長領域的測量儀。 我們可以根據客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應不同設備
多樣品納米粒子徑測試系統·nanoSAQLA 參考價：面議
nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了...
粒子徑測量系統 nanoSAQLA（帶AS50） 參考價：面議
●1個單元可輕松連續測量5個樣品。●實現了在沒有自動進樣器的情況下難以實現的多個樣品的連續測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。●標準測量時間為1分鐘的高...
分光配光測量系統 GP series 參考價：面議
●支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量●還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數...
分光輻射照度測量系統 參考價：面議
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
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