目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統>>顯微缺陷膜厚>> 總光譜光通量測量系統 HM/FM series
對應總光通量測量的所有要求
全光束測量系統總括
●總光通量[JISC7801:2009/JISC8152:2007] ●光譜總輻射通量(光譜)
●顏色匹配標準差(SDCM)
●色度坐標(U,V)[CIE1960UCS] ●色度坐標(X,Y)[JISZ8724:1997] ●色度坐標(U’V’)[CIE1976UCS] ●相關色溫與Duv[JISZ8725:1999] ●主波長(Dominant)和激發純度(Purity)[JISZ8701:1999] ●顯色評價數(RA,R1?R15)[JISZ8726:1990]
●可以改變光源的照明方向,因此可在實際使用條件下進行測量
●排除積分空間以外的發光部件,消除吸收誤差
●積分空間的一半亮度(靈敏度)為兩倍
●適用于表面發射光源的總光通量測量
●樣品溫度調節方便,因為除了發光表面外,它可以放置在整體半球外面
(也對應高功率光源)
●可消除樣品光源本身陰影的影響,是測量大樣品的理想選擇
(可對應積分球直徑的1/3)
●與整體半球形規格一樣,可以測量2400mm的直管光源
●使用帶輔助燈泡的積分球,可補正自我吸收