目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統>>顯微缺陷膜厚>> 量子效率測量系統 QE-2100
堅持高精度測量
●可即時測量絕對量子效率（絕對量子產率）
●可去除再激發熒光發射
●采用積分半球單元，實現明亮的光學系統。
●低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光
堅持簡單的操作
●使用專用軟件輕松操作
●易于安裝/拆卸樣品測量池
●節省空間且緊湊的設計
●可以使用分光型激發光源選擇任意波長。
●通過在軟件上指zhi定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。
堅持多功能
●與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
●豐富的分析功能
●量子效率（量子產率）測量
●激發波長相關性測量
●發射光譜測量
●PL激發光譜測量
●EEM（激發發射矩陣）測量
LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率（量子產率）測量薄膜狀
樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產率）測量-遠程熒光粉等的熒光樣品
量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。
染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產率）測量
復雜化合物的測量
1. 具有積分半球的理想光學系統
QE-2000 配備有積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特點。
由于非發光部分（支架等）可以暴露在外面，所以可以保持很小的自吸收，并且可以實現理想的光學系統。
反射鏡使同一點的照度增加一倍，從而實現高靈敏度測量。
樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，并且幾乎沒有損壞積分球內部的風險。
2.通過再激發熒光校正功能觀察“真實物性值”
在包括再激發熒光發射的狀態下，觀察包括器件的特性，而不是對材料本身物性的觀察，無法得到真實的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發熒光校正進行簡單而準確的測量。
3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區雜散光
使用傳統檢測器（多色儀）時，紫外區域的雜散光以高水平檢測，因此不適合測量量子效率（量子產率）。大冢電子通過開發消除雜散光的技術解決了這個問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強度約為我們傳統產品的 1/5，即使在紫外線區域也能實現高精度測量。
參考和樣品激發光、熒光光譜測量示例
自動進樣器
樣品架 (
1) 用于粉末測量 SUS304 材質，帶石英蓋 (
2) 用于薄膜測量 用于透射測量的樣品架
軟件
直觀且易于使用的專用軟件。只需設置樣品測量池，即可輕松測量量子效率（量子產率）、激發光譜等。
BAM 多重激勵的測量示例
當激發波長發生變化時，量子效率（量子產率）發生變化。下圖顯示了 BAM（粉末）的量子效率（量子產率）和反射率的激發波長依賴性。(BAM = BaMgAl10O17: Eu) ● 藍色（左刻度）：再激發校正后的內量子效率（內量子產率） ■ 紅色（右刻度）：每個激發波長的反射率 從該圖中，在 BAM 的情況下可以可見，隨著激發光接近可見光區，吸收率降低，即反射率增加。
熒光素激發光譜的測定
激發光譜是指示熒光強度在哪個激發波長下最zui大化的光譜。右圖顯示了熒光素（藍色）的激發光譜和激發波長（493 nm）處熒光強度最大的熒光光譜（綠色）。
熒光素內部量子效率的測量（內部量子產率）
右圖為熒光素溶液在493 nm激發波長下的熒光光譜（包括激發光）。內量子效率（內量子產率）為0.903（濃度6.43×10-6 mol/L），相當于文獻值0.921）。1) G. Weber 和 FWJ Teale，Trans Faraday Soc 53, 646 (1957)
測量量子點的內量子效率（內量子產率）
量子點作為可以通過改變其組成和內部結構來調整其光學特性的材料而備受關注。量子點的激發光譜和激發波長為370 nm的熒光光譜如下圖所示。
測量單元、檢測單元、光源單元為獨立類型
除標準功能外，還可根據應用進行擴展。
量子效率測光系統（分體式）QE-2100
溫度控制功能（50-300°C）可實現量子效率（量子產率）的溫度相關測量
通過根據應用構建光學系統，可以支持各種樣品。
該探測器還可用于總光通量測量和光分布測量
檢測器可以改變到另一個波長范圍
兼容紫外至近紅外寬帶（300 至 1600 nm）規格
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