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北京元中銳科集成檢測技術有限公司>>光電一體化>>激光干涉儀>> KIF-FSA干涉條紋解析軟件

干涉條紋解析軟件

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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 KIF-FSA
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2017-07-07 10:29:56瀏覽次數:1910

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產品簡介

安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上,通過條紋掃描方式取得被測物的波面相位并顯示且保存測定結果的干涉條紋解析系統。Z適合用于*以及生產現場中對平面以及球面的面精度進行定量評價。

詳細介紹

省空間
采用我社開發的壓電控制器和筆記本電腦,大大節省了空間。

測定速度的提升
改善了圖像數據的讀取以及解析算法,加快了測定的速度。

可自動校準
配上3軸壓電受臺(選件),可實現干涉儀條紋設為0條紋的校準作業的自動化,可提高作業效率(球面測定時)。

解析軟件的高機能化
更新為以自動校準機能為中心的解析軟件,可對應更精細的需求。

數碼變焦機能
用數碼變焦可在1倍到3倍以每0.1的倍率設定,微小機件的確認也變得簡單了。

2D、3D彩色圖像顯示
通過2D彩圖的顯示可確認波面相位以及橫切面的形狀。3D圖像更能直觀地顯示波面的相位。

合格與否的判定機能
設定規格值,在生產線上可簡單地進行合格與否的判定。而且可設定與客戶定義像差相對應的規格值。

可定制畫面
具有保存、讀取畫面排版狀態的機能,可設定適合使用場所以及產品的排版。

主要用途:
· 評價鏡片、平面光學部品研磨面的面精度
· 評價鏡片、平面光學部品透過波面的定量
· 評價反射鏡、硬盤、晶片、磁頭等金屬面的面精度評價 

規格 

解析方式 條紋掃描方式
測定條紋條件 正弦波狀強度分布的干涉條紋
(不可進行多重干涉的干涉條紋解析)
干涉條紋顯示圖像尺寸 640×470(像素)
再現性 PV值:0.01λ(2δ)以下、
RMS值:0.003λ(2δ)以下
解析機能 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3以及Zernike系數的解析與顯示
合格與否的判定 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3等的規格值設定與合格與否的顯示
3軸壓電受臺沖程(選件) 粗動:±3mm(XYZ的各軸)
微動:12μm(XYZ的各軸)
使用環境 水平無震動的場所
(地面震動±0.8/S2)以下
溫度:23± 3℃
濕度:60%以下,無凝露

· 因測定時的設置環境不同,會發生機械性能不能充分發揮的時候,敬請原諒!
· 本裝置不保證Traceability體系中的精度。 

主畫面
解析結果以2維圖表以及3維鳥瞰圖表示。在2維圖表中可顯示橫切面的形狀。而且各像差以及Zernike系數將以數值形式顯示。如有設定規格值時,將會顯示柱型統計圖以及合格與否(○/×)。可在菜單中進行各種設定、數據的保存以及讀取。
<解析結果顯示技能>
· P-V、RMS、Pwr
· 賽德爾像差Tilt、Focus、像差AS、慧差Coma、球差Sa3
· 3維鳥瞰圖、2維彩圖
· 橫切面側面像(X、Y方向、PV、RMS)
· 合格與否判定結果
<文件輸入輸出機能>
· 工作參數的保存與讀取
· 條紋數據的保存與讀取
· 測定區域的保存和讀取
· 畫面版面的保存與讀取
· 主窗口打印

測定結果保存
測定結果可作為條紋數據保存于文檔中。且左右畫面可作為文本形式復制至剪貼板,可粘貼到表計算軟件。

測量區域設定畫面
可同時設定四角形、圓形、多角形的多個測量區域。在不進行特殊形狀設定時,亦可令程序按百分比自動圈劃區域。
<測量區域機能>
· 特殊形狀區域設定(四角形、圓形、多角形、自動圈劃區域)
· 自動圈劃設定

工作參數設定畫面
可設定產品名等的屬性,波長選擇、Fitting次數選擇、像差清除設定、表示單位選擇、對Zernike系數的offset的設定、規格值設定、用戶定義像差設定等的設定。
<工作參數設定機能>
· 產品名、單位名、注釋
· Fitting次數(3/4/9/16/25/36)
· 像差清除(像差/Zernike系數)
· 顯示單位(λ、μm、nm、條紋)
· 對Zernike系數的offset設定
· 規格值(各像差以及用戶定義式)

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