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北京元中銳科集成檢測技術有限公司>>光電一體化>>激光干涉儀>> KIF-10A-NW/NTW(KIF-10A-NW/NTW)小型牛頓干涉儀

小型牛頓干涉儀

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具體成交價以合同協議為準
  • 型號 KIF-10A-NW/NTW(KIF-10A-NW/NTW)
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 北京市
在線詢價 收藏產品

更新時間:2017-07-25 09:32:31瀏覽次數:1290

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產品簡介

應用了KIF-10A,用于測量光圈數目的測定儀。通過光圈數目與元器的比較,可簡單地短時間內進行測定。因采用非接觸的測定方式,不用擔心會破壞鏡片面以及元器。是在制造現場的工序測定中*的新檢測工具。

詳細介紹

可進行穩定的檢測
緊湊型的臺式機,可放置于小的空間。在上面放置被測鏡片進行測定,無需花費時間裝卸。帶有防震構造,可簡單地進行穩定的測試。

可根據被檢物簡單地改變測定姿勢(KIF-10A-NW)
可通過只更改腳部安裝部位的位置,來改變測定的姿勢。所以可根據被測物的需求,當作上置式或下置式使用。

采用635nm 波長激光,順利引入生產線。(在線)
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似,干涉條紋的條紋感應度也與其近似。可順利應用到現有的檢查加工工程中。(在線)

品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構,其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。

主要用途
單體鏡片的光圈數,面精度評價 

KIF-10A-NW/NTW規格: 

受臺開口徑   Φ42mm
被測物固定方法   鏡片治具(因各鏡片的形狀各異) 
受臺的鏡片治具接合口徑Φ63mm
本體外徑尺寸 NW 290(W)×240(D)×600(H) (mm )
(含遮光板)
  NTW 750(W)×450(D)×1280(H)mm
(桌子高度調整范圍zui大值)
本體重量 NW 約9.0Kg
(含干涉儀本體約2.0Kg)
  NTW  約37Kg
(含干涉儀本體約2.0Kg)
沖程 移動 ±1mm
  Z粗動 朝上:沖程156mm 
朝下:沖程130mm
(但因被測物的厚度,鏡片治具形狀各異)
  Z微動 ±1mm
選件   小型顯示器(2.5型,5.6型)
參照鏡
孔徑轉換器RF25-D6

鏡片治具敬請客戶自行配備

KIF-10A-NW/NTW 各參照鏡的測量范圍
KIF-10A-NW (上置式)/NTW 

參照鏡 檢查可能曲率半徑 檢查可能曲率半徑 檢查可能zui大口徑 檢查可能zui大口徑
FNO zui終R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 169.0 10.0 41*2
0.7 11.8 0.78 10.5 165.0 13.5 41*2
1.0 20.0 1.07 18.0 157.0 16.8 41*2
1.5 31.5 1.53 30.0 145.0 19.6 41*2
2.0 44.4 2.04 43.0 132.0 21.1 41*2
3.0 69.5 3.05 68.0 106.0 22.3 34.7
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -


KIF-10A-NW (下置式) 

參照鏡 檢查可能曲率半徑 檢查可能曲率半徑 檢查可能zui大口徑 檢查可能zui大口徑
 FNO zui終R R/D
0.6 8.2 0.67 6.7 143.0 10.0 100*1
0.7 11.8 0.78 10.5 139.0 13.5 100*1
1.0 20.0 1.07 18.0 132.0 16.8 100*1
1.5 31.5 1.53 30.0 120.0 19.6 78.4
2.0 44.4 2.04 43.0 107.0 21.1 52.4
3.0 69.5 3.05 68.0 82.0 22.3 26.8
6.0 147.1 6.09 146.0 - 24.0 -

可測定的zui大曲率半徑所表示的是在設定被檢物的厚度為零的情況下的數值。
可測定的zui大曲率半徑是在凹面側并根據鏡片結合夾具形狀、干涉儀的設置方向(上置型/下置型)等的機械尺寸以及受臺部形狀而變化
可測量zui大口徑中,帶有*1記號的數值為受臺上可放置的zui大口徑,帶有*2記號的數值為根據受臺開口徑確定的可測定zui大口徑。
FNO 表示光學設計上近軸FNO,實效值用R/D表示。
可檢查zui小口徑以及zui小曲率半徑根據被檢物的形狀而異。
相關符號:R:曲率半徑、D:直徑

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