小型·操作簡便
　　充分考慮作業現場內的使用環境，占地空間小，方便操作。

可測量倍率（1×、2.5×）
　　測定倍率擴大到2.5×，可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15（可選件）的孔徑轉換器組合匹配使用的話，可zui大擴大10倍。（平面測定時）

參照鏡片λ/20 高精度
　　因為本社加工技術，參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據客戶選擇的需要，也可提供λ/30 的產品。

豐富的附屬備件群
　　我社準備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置（KIF-FSPC/FS2000），可進行高精度條紋解析。

主要用途：
· 鏡片研磨面的面精度的測定。
· 塑料成型件的面精度的測定。
· 各種金屬切削面的面精度的測定。 

規格：  

表示被檢物的厚度為零時的數值。
各特別規格參照鏡的測定可能范圍（受注生產品）
*本社準備了2 英寸的特別規格參照鏡，可用于較大曲率半徑的測定。
*凹鏡片測定用（發散型）樣式有4 種，凸鏡片測定用（集光型）樣式有3 種。可供您隨意選擇。
KIF-202L （標準規格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

表示被檢物的厚度為零時的數值。
KIF-202LL（長距離：150mm沖程延長規格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

表示被檢物的厚度為零時的數值。
注明：測定可能zui大曲率半徑以及測定可能zui大口徑，將會根據干涉儀的受臺夾具等機械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結底因為目視，故不能保證。