超小型·操作簡便（KIF-10A-UW）
上置型高度僅為185mm （本體部分），結構緊湊。可放置于工作現場的加工機器旁，將與被測鏡片相匹配的鏡片附加夾具安裝在受臺上，只需將被測鏡片置于其上則可進行檢測。
檢查各種鏡片相匹配的附加夾具，煩請客戶自行準備為盼。

主要用途：
· 評價鏡片研磨面的面精度。
· 評價塑料成型件的面精度。
· 評價各種小型球面、平面部件的面精度。 

各參照鏡的測量可能范圍
可測定的zui大曲率半徑所表示的是在設定被檢物的厚度為零的情況下的數值。
可測定的zui大曲率半徑是在凹面側并根據鏡片結合夾具形狀、干涉儀的設置方向（上置型/下置型）等的機械尺寸以及受臺部形狀而變化。
可測量zui大口徑中，帶有*記號的數值為受臺上可放置的zui大口徑，FNO 表示光學設計上近軸FNO，實效值用R/D表示。
可檢查zui小口徑以及zui小曲率半徑根據被檢物的形狀而異。
相關符號：R：曲率半徑、D：直徑

采用635nm 波長激光，順利引入生產線。（在線）
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似，干涉條紋的條紋感應度也與其近似。可順利應用到現有的檢查加工工程中。（在線）

品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構，其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。 

KIF-10A-UW規格