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產品簡介
詳細介紹
總評
用于品種多量少的小型鏡片的生產現場上的快速品質檢查。（KIF-10A-DW）
檢查不同規格的鏡片時不需要使用配套夾具，用于品種多數量少的鏡片檢查，只需將鏡片放置其上，如同使用顯微鏡一樣的簡單操作，便可輕便迅速地對應品質檢查。
主要用途：
· 評價鏡片研磨面的面精度。
· 評價塑料成型件的面精度。
· 評價各種小型球面、平面部件的面精度。
采用635nm 波長激光，順利引入生產線。（在線）
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似，干涉條紋的條紋感應度也與其近似。可順利應用到現有的檢查加工工程中。（在線）
品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構，其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。
KIF-10A-DW規格
檢查方式 斐佐型干涉方式 口徑 Φ25.4mm（1英寸） 倍率 1倍 參照鏡面精度 λ/15（球面以及平面） 光源 半導體激光（635nm）2級產品激光輸出功率為0.8mw以下。 電源 一次電源AC100~240V 50/60Hz 本體供給電源 DC12V 被檢物大小 R： 140mm~113mm*、直徑~約110mm 本體外形尺寸 180（W）×230（D） ×440（H）mm 本體重量 約5.2kg 主要選件 3軸受臺、2軸受臺、小型液晶顯示器（2.5型、5.6型）、參照鏡、測長機組、減衰過濾器AF、孔徑轉換器Φ25-Φ6