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簡要描述:蔡司3D掃描電子顯微鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡,為您提供優異的成像品質。
賽默飛實驗室設備簡要描述:賽默飛Talos™F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創新功能以提高效率、精度 和...
簡要描述:掃描電鏡透射電鏡進口電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTo...
簡要描述:賽默飛Talos™F200X掃描/透射電子顯微鏡提供速,納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創新功能以提高效率、精度 和使用便易度,Ta...
簡要描述:雙束電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索。現如今,高分辨率掃描電子顯微鏡在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以...
簡要描述:掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應用,高可用性:EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和Smar...
簡要描述:蔡司雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索。現如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM6具有出色的探測效率,能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM5將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學, 材料科學,...
簡要描述:卡爾蔡司電子顯微鏡SEM,將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM4借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM3的FIB-SEM結合了場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦離子束(FIB)優異的加工性能。無論...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM2 是學術和研究機構使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優異的成像品質,具有處理多種材料的能力...
簡要描述:掃描電子顯微鏡SEM標配能譜儀和波譜儀(EDSWDC)接口,另有用于高級形貌與化學分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度...
簡要描述:工業顯微鏡Axiolab 5易于操作且符合人體工程學的設計理念,新型進口蔡司工業電子顯微鏡成為實驗室日常工作的好幫手。只需單手便可操作所有的主要控件,...
簡要描述:關聯工業掃描電子顯微鏡技術為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應商,并從...
簡要描述:ZEISS掃描電子顯微鏡EVO將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學, 材...
簡要描述:景深數碼電子顯微鏡蔡司公司面向發布一款智能3D數碼顯微鏡Smartzoom5,這是一款為工業質量控制領域及研究方向的客戶提供的一項全新解決方案。可對樣...
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