目錄:深圳市錫成科學儀器有限公司>>輪廓/膜厚測量>>探針式輪廓儀>> P7探針式輪廓儀(臺階儀)
產地類別 | 進口 | 產品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
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價格區間 | 50萬-100萬 | 應用領域 | 綜合 |
探針式輪廓儀(臺階儀)KLA Tencor P7 /P17是UltraLite 傳感器、恒力控制和超平掃描樣品臺結合,實現了好的測量穩定性。通過使用點擊式樣品臺控制、頂視和側視光學元件以及具有光學變焦功能的高分辨率相機,可快速輕松地設置程式。支持2D或3D測量,可使用多種濾波、調平和分析算法來測量表面形貌。通過圖形識別、序列和特征檢測實現全自動測量。
探針式輪廓儀(臺階儀)技術特點
高精度2D/3D 表面形貌掃描
超大范圍的單次掃描量程,無需圖像拼接
納米至1000微米臺階高度測量
粗糙度和波紋度測量
樣品翹曲和曲率半徑測量
2D/3D薄膜應力測量
表面缺陷檢測
探針掃描
掃描載臺具有單程150 mm的精確掃描范圍以及大1 mm的掃描高度范圍,從而保證高質量的2D和3D掃描數據。
3D成像
通過3D掃描可以得到表面的三維成像,呈現出彩色三維圖像或自上而下的等高線圖像。可以從中提取截面/線中的三維或二維數據。
應力分析
能夠測量在生產包含多個工藝層的半導體器件期間所產生的應力。使用應力卡盤將樣品支撐在中性位置并精確測量樣品翹曲,然后通過應用Stoney方程來計算應力。2D應力通過在直徑達150mm的樣品上通過單次掃描測量,無需圖像拼接。3D應力的測量采用多個2D掃描,并結合θ平臺在掃描之間的旋轉對整個樣品表面進行測量。
Apex軟件
Apex分析軟件通過提供調平、濾鏡、臺階高度、粗糙度和表面形貌分析技術的擴展套件,增強了P-7的標準數據分析能力。 Apex支持ISO粗糙度計算方法以及如ASME之類的本地標準。 Apex還可用作報告編寫平臺,具有添加文本、注釋和是/否合格的準則。 Apex提供八種語言的版本。
型號 | P7 | P17 |
臺階高度 | 5nm~1000μm | |
分辨率(X/Y/Z) | 0.025 µm /0.5μm /0.01 Å | |
重復性 | 4 Å(1μm臺階) | |
載力范圍 | 0.03mg~50mg | |
視頻 | 5MP高分辨彩色相機 | |
觀察位置 | 頂視或側視 | |
弧形校正 | 消除探針的弧形運動引起的誤差 | |
單次掃描 | 150mm | 200mm |
樣品臺 | 150mm | 200mm |
自動化測量 | 圖案識別、1000個量測序列點和序列隊列功能 |