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首頁>>深圳市錫成科學儀器有限公司>>產品展示>>輪廓/膜厚測量>>橢偏儀

  • 橢偏儀 參考價：面議

    橢偏儀：超薄膜的實時可視化分析測試，實時觀察樣品微觀尺度上的結構。可以測量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數等參數。也可以對薄膜進行區域化(選區)分析，獲得所選區域...
    型號： Nanofilm_... 廠商性質：代理商所在地：深圳市 對比
    成像橢偏儀橢偏儀橢偏儀價格薄膜厚度測量橢圓偏振儀
    2024/8/7 14:47:21316
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