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當前位置:九域半導體科技(蘇州)有限公司>>產(chǎn)品展示>>硅片方阻測試儀
金屬薄膜方阻,方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值,該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小...
非接觸式單點薄層電測量系統(tǒng)。該裝置包含一個渦流傳感器組,感應弱電流到導電薄膜和材料。非接觸式薄膜方塊電阻測量儀試樣中的感應電流產(chǎn)生與測量對象的片電阻相關的電磁場...
PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素,因為它關系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術提出了額外的挑戰(zhàn),因為其生產(chǎn)過程...
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控...
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