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  • 金屬薄膜方阻測試儀

    金屬薄膜方阻,方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值,該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2024/11/18 16:25:15 對比
    技術薄膜方阻渦流法非接觸晶圓缺陷
  • 無損方塊電阻測試儀

    非接觸式單點薄層電測量系統(tǒng)。該裝置包含一個渦流傳感器組,感應弱電流到導電薄膜和材料。非接觸式薄膜方塊電阻測量儀試樣中的感應電流產(chǎn)生與測量對象的片電阻相關的電磁場...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2024/11/18 16:10:34 對比
    無損方塊電阻方阻電阻率非接觸
  • PN型測試儀

    PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素,因為它關系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術提出了額外的挑戰(zhàn),因為其生產(chǎn)過程...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2024/11/18 15:44:26 對比
    PN型非接觸式表面光電壓硅片光伏
  • 硅片方阻電阻率

    晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2024/11/18 15:37:11 對比
    晶圓方阻硅片電阻率遷移率測試儀渦流法電阻率測試儀少子壽命測試儀

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