當今的模擬和功率半導體技術（包括 GaN 和 SiC）要求進行參數測試，以便限度提高測量性能、支持廣泛的產品組合以及限度降低測試成本。40 多年來，吉時利已經在關鍵應用中解決了這些問題以及其他重要挑戰，這些應用包括工藝整合、工藝控制監控、生產芯片分類（例如，晶片驗收或已知的良好芯片測試），以及可靠性。帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。S530 可進行高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對接探測器和原有探頭卡重新使用的可選系統測試頭，支持汽車標準 IATF-16949 要求的系統級 ISO-17025 引腳校準，以及從原有的 S600 和 S400 系統進行遷移的、最順暢的路徑，具有完整的數據關聯性并提高了速度。540 參數測試系統是一個全自動化的 48 引腳參數測試系統，適用于高達 3kV 的功率半導體器件和結構的晶片級測試。集成式 S540 已針對包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (G......
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