目錄:上海騁利電子科技有限公司>>Keithley 儀器和產品>>Keithley 半導體測試系統>> Keithley 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
ACS的特點是腳本編輯器,這是一個獨立的工具,帶有圖形用戶界面,用于開發Python代碼和TSP®腳本,進行儀表控制、數據分析和系統自動化操作。其提供創建和開發 GUI 設計以及管理用戶庫和模塊的直觀方法。
ACS的晶圓探針自動化選項使您能夠輕松將各種常用的半自動或全自動晶片探針臺連接到測試設置中,從而可以快速捕獲大量數據。此選項包括晶片描述實用程序、具有晶片評等功能的實時晶片圖、暗盒樣品計劃實用程序以及測試后暗盒和晶片查看實用程序。ACS 內置的許多工具和功能都可以增強設備的自動檢定能力。
ACS提供了一組通用的關鍵元素,可以跨多種硬件配置工作,從而減少了時間并提高了生產率。系統從一個硬件到另一個硬件實現的執行是一致的,因此,例如,很容易將用于單設備組件表征的基礎ACS系統的你的測試結果轉移到另一個設計用于晶圓級測試的系統。
ACS中的工具簡化了測試開發流程,限度地提高了與系統相連的每個Keithley儀器的速度。ACS 和 Keithley 基礎TSP的硬件一起提供了業界的吞吐量,從而降低了測試成本,不需要您在獲得實現目標所需的數據之前花時間學習新的編程概念或語言。
儀器類型 | 型號 | ACS 版本 |
---|---|---|
SMU 儀器 | 2600B 系列:2601B、2602B、2604B、2611B、2612B、2614B、2634B、2635B、2636B 2600A 系列: 2601A、2602A、2611A、2612A、2635A、2636A 2400 圖形觸摸屏系列:2450、2460、2460-NFP、2460-NFP-RACK、2460-RACK、2461、2461-SYS、2470 2400 標準系列:2401、2410、2420、2430、2440 2606B 高密度系列:2606B 適合大功率的 2650 系列:2651A、2657A | ACS 基礎版 ACS 標準版 |
參數分析儀 | 4200A | ACS 基礎版 ACS 標準版 |
DMM | DMM7510,2010 系列 | ACS 基礎版 ACS 標準版 |
交換系統 | 707A/B、708A/B、3700A | ACS 基礎版 ACS 標準版 |
脈沖發生器 | 3400 系列 | ACS 基礎版 ACS 標準版 |
探測器 | TEL P8/P12、TEL T78S/80S、ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90、MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000、FormFactor (Cascade) Summit 12000、FormFactor (Cascade) S300、Suss MicroTec PA200/Cascade CM300、Electroglas EG2X/EG4X、Wentworth Pegasus 300S、Signatone CM500、Yang Sagi3、Micromanipulator P300A、 Vector Semiconductor AX/VX Series、Apolowave AP200/AP300、MJC AP-80, Semiprobe SPFA Prober | ACS 標準版 |
注:
泰克軟件簡介
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軟件的維護通過維護許可證進行。維護許可證可延長軟件的 維護期,以便能持續進行軟件更新。作為軟件本身價格的 一部分,維護是在發布新功能時保持軟件得到更新的方式。鑒于訂閱已包括整個訂閱期內的維護,該許可證 僅適用于性許可證。維護許可證應在維護過期之日或之前應用, 這樣才能接收到不間斷的軟件更新。如果維護確實過期了,通過購買足以 從過期之日接上并延長的許可證 即可輕松延長維護期。與購買的版本相比,以此方式續訂維護 可確保以較低的價格獲得更新的軟件。
注: 性許可證包括一年維護,但是一年后, 每 12 個月將要求使用新的維護許可證才能繼續接收更新。
US $590
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ACS基礎版集成測試系統是參數化揀選、高功率半導體器件檢定和晶片級可靠性測試等應用的完整解決方案。當配合適合的半自動和全自動探針臺,它們的硬件配置和測試項目開發可以很容易地針對特定的任務進行優化。
使用 Keithley 高功率系統 SMU 儀器和 ACS 基礎版軟件測試功率半導體設備的應用指南
ACS 多站點并行測試集成測試系統應用指南
Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times.
Shared Stress Reliability Testing with ACS Application Note
The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.
Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A
由于GaN HEMT的“常開"特性,在進行I-V特性分析時需要一個特定的電源時序。ACS軟件支持在不破壞器件本身的I-V特性的情況下,對器件的GaN HEMT特性進行電源時序測試。
GaN HEMT 檢定的電源時序應用指南
ACS Basic Edition 和 ACS Standard Edition 軟件在整個半導體工作流程中均用于對半導體器件進行廣泛的測試,以獲得詳細的檢定。整合 ACS Basic 和 ACS Standard 的測試系統可提供:
ACS Basic Edition 軟件于組件和分立(封裝)半導體器件的參數測試。該軟件運用以下特點,限度地提高了技術人員與工程師在研發方面的生產力:
集成階段使用 ACS Standard Edition 軟件進行半自動晶圓測試,包括穩定的過程開發和晶圓級可靠性 (WLR)。該軟件可用于 SMU-per-pin 系統級測試。ACS WLR 軟件提供以下好處:
ACS 標準版軟件還適用于集成的機架式自動定制測試系統,用于過程控制監控 (PCM)、晶圓驗收測試 (WAT) 和晶粒挑揀。ACS Standard 軟件中內置的許多工具和功能可增強 設備的自動檢定能力: