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冠乾科技(上海)有限公司
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布魯克nanoIR AFM紅外原子力顯微鏡

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質經銷商

所  在  地上海市

更新時間:2023-01-08 15:38:47瀏覽次數:2411次

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產地類別 進口 定位檢測噪聲 0.2nm
價格區間 面議 樣品尺寸 150mmmm
樣品臺移動范圍 100mmx100mmmm*mm 儀器種類 原子力顯微鏡
應用領域 化工,生物產業,電子,冶金,航天
布魯克nanoIR AFM紅外原子力顯微鏡業界的nanoIR™產品被學術和工業科學家、工程師應用于軟質和硬質材料學和生命科學。近,Anasys推出的10納米分辨率nanoIR成像進一步提高了產品性能。

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Bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。


光熱誘導技術實現10nm超高化學分辨率和高信噪比納米紅外光譜

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高性能納米級 FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供:

  • 高性能納米級 FTIR 光譜

  • 高性能紅外近場光譜,采用目前*進的納米紅外激光源

  • 納米級 FTIR 光譜,采用集成式DFG,可與寬帶同步輻射光源集成

  • 適用于光譜和化學成像的多芯片 QCL 激光源

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點光譜技術

POINTspectra 激光器可執行多個波長的光譜分析和高分辨光學成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單:

·在 AFM 圖像中選擇要測量的特征

·測量樣品的波譜,選擇感興趣的波長

·采集高分辨光學屬性圖


根據對多個波長的干涉圖的快速測量,獲得空間分辨率達到 10nm 的振幅和相位圖像     實現 10nm 分辨率Tapping AFM-IR,用于互補性紅外光譜分析。


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