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布魯克的NPflex 大樣品計量檢測光學輪廓儀為精密制造業帶來的檢測性能,實現更快的試產擴量時間,提高了產品質量和生產力。基于白光千涉的原理,這套非接觸系統提供...
多普勒激光測振儀Memsmap 510以其測速精度高、測速范圍廣、動態響應快、非接觸測量等優點在航空航天、機械、生物學、醫學以及工業生產等領域得到了廣泛應用和快...
布魯克3D光學輪廓儀突破了一般的表征技術,為您提供逼真成像與可信測量數據的結合--為研發決定提供定量、重復可靠的表面數據--所有三維光鏡能提供的Z佳橫向、縱向分...
Contour 高精度三維形貌計量光學輪廓儀融合了高級表征、可定制選項和易用性,可以提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。它的操作和分析軟件系統提供...
布魯克光學輪廓儀ContourX-100小尺寸系統采用流線型設計,結合了數十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創新,可提供2D / 3D高分辨率測量功能。滿足計...
布魯克光學輪廓儀ContourX-500是世界上全面的快速,非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的自動傾斜光學測頭,可以*編程并自動測試一...
布魯克光學輪廓儀ContourX-200融合了高級表征、可定制選項和易用性,可提供快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統...
TI-950型納米壓痕試驗機是自動化、高通量測試儀器,可以用來表征多項納米力學材料性能參數。高性能的樣品加載系統和傳感技術賦予儀器超高的穩定性和廣泛的應用領域,...
掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88是布魯克公司生產的新一代原位納米力學測試系統,其大特點是系統設計高度模塊化,后期可在已有系統上自行配置...
布魯克Hysitron PI 95透射電鏡測試系統是TEM的多用途、高靈敏度熱學、電學和力學的測試系統,在TEM上檢測時,直接觀察檢測過程,使用側面進樣支架,不...
300mm通用組合水平式檢測干涉儀是慧利儀器“大口徑相移式激光干涉儀系列產品之一。它采用經典的斐索型共光路設計,結構簡單、在適用于多種被測樣品的前提下,使用數字...
掃描探針顯微系統Dimension Icon的性能、功能及附件等方面具有全新表現,在聚合物、半導體、能源、數據存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dim...
Hysitron PI系列 電鏡專用原位納米力學 通過自動數據分析確保精確、閉環反饋控制的納米力學測試。
Bruker摩擦磨損試驗機UMT主要用于從納米、顯微及宏觀水平上,對各種材料,薄膜/涂層/改性層,固態或液態的潤滑層,潤滑油和潤滑劑的力學、摩擦學研究及其評價的...
Dimension FastScan原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),在不損失DimensionIcon 超高的分辨率和儀...
布魯克nanoIR AFM紅外原子力顯微鏡業界的nanoIR™產品被學術和工業科學家、工程師應用于軟質和硬質材料學和生命科學。近,Anasys推出的...
布魯克TI Premier 高精度納米力學測試系統是布魯克公司研制的自動化、高通量測試儀器,通過納米級位成像,可實現壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征...
Bruker超高速原子力顯微鏡憑借其50幀/秒的超高速成像,實現了真正意義上視頻級成像速度下單個生物分子的動態觀察。NanoRacer®的革新性的技術...
布魯克 DektakXT臺階儀,表面輪廓儀是一項創新性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以達到5埃。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dekt...
Dimension-Edge-掃描探針顯微鏡系統Dimension Edge 掃描探針顯微鏡系統 基于Dimension Icon®平臺, Dimen...
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