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馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀 （XRF） 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制...

馬爾文帕納科X射線衍射儀射線衍射儀X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統的新型 X'Pert³ 系列中得以延用。 馬爾文帕納科X射線衍射儀...

馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏...

馬爾文帕納科臺式X射線衍射儀馬爾文帕納科臺式X射線衍射儀Aeris 將給您留下深刻印象，數據質量和數據采集速度目前只有在大功率系統上才能實現。 這個小巧的儀器結...

馬爾文帕納科凝膠滲透色譜儀馬爾文帕納科凝膠滲透色譜儀OMNISEC是一套完整靈敏的凝膠滲透/尺寸排阻色譜（GPC）/（SEC），是由前端色譜分離系統、檢測器和軟...

馬爾文帕納科臺式X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科推出的臺式XRF Epsilon 4 臺式X射線熒光光譜儀將新的激發和檢測技術于智能設計相結合，其分析更能更接近于功...

馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀通過使用馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀Epsilon Xflow進行在線液體分析，可以快速準確地控制過程參數。 增強的法規和質量規范推...

馬爾文帕納科晶圓分析儀馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導體和數據存儲行業而設計，...

馬爾文帕納科工業X射線衍射儀馬爾文帕納科工業X射線衍射儀符合X 射線和運動安全規范，且具有環保和可靠性能，其可靠性的增強及性能的改進提高了分析能力，提供一體化解...

原位 FTIR 光譜為了完整了解和優化化學反應，化學家及工程師們需要深入的反應信息，這樣的反應信息通常由離線分析技術獲取。然而，離線取樣費時費力，并且有時間上的...

梅特勒托利多超微量紫外可見分光光度計梅特勒托利多超微量紫外可見分光光度計廣泛應用于物理學、化學、生物學、醫學、材料學、環境科學等科學研究領域,還可在化工、醫藥、...

激光拉曼光譜儀激光拉曼光譜儀分析是一種非破壞性的微區分析手段，液體、粉末及各種固體樣品均不需特殊處理即可用于拉曼光譜的測定。

超微量紫外可見分光光度計超微量紫外可見分光光度計是基于紫外可見分光光度法原理，利用物質分子對紫外可見光譜區的輻射吸收來進行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器...

拉曼光譜儀ReactRaman 785拉曼光譜儀帶有基于光纖探頭的采樣技術，結合了高性能以及小巧、熱性能穩定、堅固和便攜式設計等特性，無論何處需要都能提供結果。

激光拉曼光譜儀激光拉曼光譜儀是一個集合了激光光譜學、精密機械和微電子系統的綜合測量體系。

梅特勒托利多紫外分光光度計紫外可見分光光度計是基于紫外可見分光光度法原理，利用物質分子對紫外可見光譜區的輻射吸收來進行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器、吸...

進口激光拉曼光譜儀進口激光拉曼光譜儀帶有基于光纖探頭的采樣技術。結合了高性能以及小巧、熱性能穩定、堅固和便攜式設計等特性，無論何處需要都能提供結果。

超微量分光光度計是基于紫外可見分光光度法原理，利用物質分子對紫外可見光譜區的輻射吸收來進行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器、吸收池、檢測器和信號處理器等部...

紫外分光光度計紫外分光光度計是基于紫外可見分光光度法原理，利用物質分子對紫外可見光譜區的輻射吸收來進行分析的一種分析儀器。主要由光源、單色器、吸收池、檢測器和信...

梅特勒 原位FTIR ReactIR 702L液氮檢測器全新的固態檢測器技術，采用經優化的 Comp 探頭專用光學接口。確保優異性能，無需使用液態氮。