RIE等離子刻蝕機 參考價：面議
RIE等離子刻蝕機該等離子刻蝕機配備了用戶友好的強大軟件，具有模擬圖形用戶界面，參數窗口，工藝編輯窗口，數據記錄和用戶管理。
ICP-RIE等離子刻蝕機 參考價：面議
ICP-RIE等離子刻蝕機三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。...
接觸式粗糙度輪廓儀 參考價：面議
接觸式粗糙度輪廓儀DANTSIN-OPTACOM致力于各行業領域的實驗室或工作現場精密輪廓粗糙度測量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測量儀或精密輪廓粗糙度綜...
GOM三維掃描儀 參考價：面議
GOM三維掃描儀我們長期專注于半導體材料研究與分析設備的經銷和代理，為高校、企業科研工作者提供專業的分析解決方案。以專業技能為導向，用科技來解決用戶在科研中遇到...
非接觸粗糙度輪廓儀 參考價：面議
非接觸粗糙度輪廓儀白光干涉微觀形貌及粗糙度儀設計用于高精度微觀形貌分析及高精度粗糙度測量的應用。
X射線探傷機 參考價：面議
X射線探傷機公司制造X射線工業設備用于控制產品質量，如應用于汽車、航空和食品等部門。此外，公司制造的X射線設備也應用于醫療和安全部門。每個產品在國內設計制造，從...
X射線探傷機 參考價：面議
X射線探傷機X 射線工業設備用于控制產品質量，如應用于汽車、航空航天、管件、研究所和食品等不同行業。此外，制造的 X 射線設備也應用于醫療和安檢部門。每個產品在...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEMEVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， ...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優異的...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM EVO18 Research 是學術和研究機構使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優異的成像品質，具有...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價：面議
掃描電子顯微鏡SEM標配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級形貌與化學分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源...
影像測量儀 參考價：面議
影像測量儀來自蔡司的O-INSPECT復合式測量機使您能理想地測量到每一個特征——通過光學或接觸式。一個重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機MMZ G產品線的大型龍門式測量機滿足*高的需求：其提供了所有蔡司測量機中*大的測量范圍，以及很高的精度。這使得這種測量機適合測量大型的零件。MMZ...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機相較于 MMZ E 龍門式測量機，MMZ B 產品線具有更強度的設計。配合VAST gold 掃描探頭，可提供更的度和性能。同時，其設計側在于減少維...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機MMZ T 產品線特別強韌。配備的滾柱軸承使得系統不易收到外界影響，而且也提供良好的導軌特性。通過均一地組合材料和FEM化結構，其獲得了溫度穩定性和...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機PRO產品線的設計基于一個模塊化的全新平臺策略。主要特色在于：在獲得高測量精度的同時實現高速測量，還能夠與變化的生產需求順利匹配。
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機CenterMax® navigator 可以無縫融入任意生產線，并經得起所有生產環境的考驗：無論是*大的溫度波動還是典型的車間振動，都不...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機PRISMO navigator可速獲取為確的測量結果。navigator技術是為蔡司所研發的高速高度掃描技術。智能化參數設定以確保測量的確性。得益...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機蔡司VAST XT gold探頭具有高速掃描功能，除可在短時間測定幾何特征外，還可確測量及評定形狀誤差如圓度、平面度等特性。探針小直徑僅為0.3毫米...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機ACCURA即使在溫度波動變化環境中，也能確保在高度的前提下實現高速檢測。全新材料的應用使ACCURA受溫度變化的影響降到了低。ACCURA適合未來...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機蔡司XENOS可在各類要求高測量精度的領域使用——從科研機構的測量實驗室、航空和航天工業直至光學工業。這一三坐標測量機的測量精度達到技術ji限，其測...
三坐標測量機 參考價：面議
三坐標測量機升級后的六大優勢可助您精準、高效地識別缺陷產品。憑借著先的掃描技術，計算機輔助精度(CAA)，高分辨率測量，系統穩定性—ZEISS SPECTRUM...
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