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掃面電鏡儀器介紹：

掃描電子顯微鏡（SEM）是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。

電鏡的分辨本領以它所能分辨的相鄰兩點的zui小間距來表示，是電鏡的重要指標。顯微鏡的分辨本領可根據0.6λ/sinα求出，其中α為透過樣品后電子束錐角之半，λ是波長。可見光的波長約為300～700納米，而電子束的波長與加速電壓有關。當加速電壓為 50～100千伏時λ 約為0.0053～0.0037納米。由于電子束的波長遠遠小于可見光的波長，即使電子束的錐角僅為光學顯微鏡的1％，電鏡的分辨本領仍遠遠優于光學顯微鏡。

掃描式電鏡（Scanning electron microscope，SEM），電子束不穿過樣品，僅在樣品表面掃描激發出次級電子。放在樣品旁的閃爍晶體接收這些次級電子，通過放大后調制顯像管的電子束強度，從而改變顯像管熒光屏上的亮度。顯像管的偏轉線圈與樣品表面上的電子束保持同步掃描，這樣顯像管的熒光屏就顯示出樣品表面的形貌圖像，這與工業電視機的工作原理相類似。掃描式電鏡的分辨率主要決定于樣品表面上電子束的直徑。放大倍數是顯像管上的掃描幅度與樣品上掃描幅度之比，可從幾十倍連續地變化到幾十萬倍。掃描式電鏡的主要特點是：①不需要很薄的樣品；②圖像有很強的立體感；③能利用電子束與物質相互作用而產生的次級電子，吸收電子和X射線等信息分析物質成分。
　　掃描式電鏡的電子槍和聚光鏡與透射式電鏡的大致相同，但是為了使電子束更細，在聚光鏡下又增加了物鏡和消像散器；在物鏡內部還裝有兩組互相垂直的掃描線圈。物鏡下面的樣品室內裝有可以移動、轉動和傾斜的樣品臺。