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ParticleScout 定位、分類、鑒定微顆粒
  • ParticleScout 定位、分類、鑒定微顆粒
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更新時間：2022-11-30 17:28:22瀏覽次數：281評價

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WITec 3D 拉曼成像系統，現在可配備良好的顆粒分析工具了ParticleScout顆粒分析工具可以對大面積樣品內的顆粒進行測量、分類、分析、定量和識別。它不僅可對樣品進行全貌分析，還能結合單顆粒的精準化學表征來實現用戶自定義的目標顆粒歸類及搜索等針對性研究。測試結果能詳細呈現與樣品特性有關的綜合信息。ParticleScout 依托 WITec 拉曼成像系統的快速、高靈敏度和高分辨率優勢，實現快速、無縫的顆粒分析。

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