【簡單介紹】
品牌 | HIOKI/日本日置 |
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?1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
?LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
?基本精度±0.08%的高精度測量
?適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
【詳細說明】
元器件測量儀器(電感、電容、電阻測量) |
阻抗分析儀IM3570 |
1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查 |
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主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
基本參數 |
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