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目錄:杭州科銘光電科技有限公司>>小麥面粉大米檢測化驗儀器>>谷物分析儀>> KM-DM2大米外觀品質分析儀(高級)

大米外觀品質分析儀(高級)
  • 大米外觀品質分析儀(高級)
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 科銘光電
  • 型號 KM-DM2
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 杭州市
屬性

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更新時間:2024-11-24 21:22:37瀏覽次數:455評價

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產地類別 國產 價格區間 面議
儀器種類 臺式 應用領域 食品,農業,綜合
大米外觀品質分析儀(高級)用于各種類大米(精米、糙米、糯米等)、黑米各項外觀品質指標的精準自動檢測,可進行多參數、批量化的自動分析。

大米外觀品質分析儀(高級)用于各種類大米(精米、糙米、糯米等)、黑米各項外觀品質指標的精準自動檢測,可進行多參數、批量化的自動分析。


大米外觀品質分析儀(高級)主要技術指標

1、配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像。透掃幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

2、可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的:堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數量、整精米率、可直接檢測大米透明度的國標等級、黃粒米、大米顏色黃度指數和大米白度測定、雜質量、異品種粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的裂紋率,糙米胚芽率。

3、自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑(長度測量誤差≤±0.05mm,長寬比測量誤差≤±0.05,重現性誤差≤±0.02;整精米率、碎米率指標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%)。

4、可自動一次性測量分析30g以上黑米樣品的:黑色度、黑米率、整黑米率、碎米率及小碎米率,符合NY/T 832-2004標準中相關這幾項的檢測指標。

5、可大批量自動分析處理與輸出結果。

6、具有自動學習與識別特性,可自動分割粘連的大米、種粒,可做自動分類分析。

7、各分析圖像、分布圖、結果數據可保存,分析結果輸出至Excel表,可輸出分析標記圖,以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。

8、具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒范圍0.25-20mm,自動數粒精度≥99%。

9、儀器有云平臺支持,可將分析數據保存到云端隨時隨地查看。

標準配置

1、大米外觀品質檢測分析儀系統軟件U盤及軟件鎖1套

2、光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀1臺

3、鋪米器1副


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