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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>外觀分析設備>>測試儀>> WLI2000系列日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 特點介紹
厚度測量傳感器WLI2000系列
該傳感器的特點是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。
它是應用醫院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術而開發的工業測量傳感器。
這是該公司的第一個內部產品。這是一種通過傳輸光，以非接觸方式即時測量材料深度和厚度的裝置，由工業界和學術界與千葉大學椎名龍夫實驗室共同開發。據說任何能透過光的物質都可以測量。我們正在開發樹脂、塑料、玻璃制品等檢查的銷售渠道。
它具有從15μm到14mm（空間距離）的寬測量范圍，還可以進行其他測量方法難以完成的測量，例如測量透鏡內部厚度、測量間隙深度和材料內部缺陷。
目前正在開發中，未來可用于再生醫學領域。
日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 規格參數
頻道數可作為可選規格擴展至16ch。
為了提高精度，測定速度根據平均化和測定層數而變化。
·通過平均化處理提高測定精度。（10次平均、2mm玻璃板、±1μm實際結果）
測量范圍為玻璃板。
來自外部系統的操作為使用的DIO模塊的串行通信。
1最大8ch測定
2高速測定max.8ch/5sec
3測定精度+/-0.3%
4測量范圍15微~10mm
5可從外部系統操作
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