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當(dāng)前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測試儀>> DUORES日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭
產(chǎn)品型號DUORES
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2024-10-13 19:15:38瀏覽次數(shù):204次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)日本進口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評估設(shè)備
日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用
日東NITTOSEIKO電導(dǎo)率電阻率測試儀測量硅片
產(chǎn)地類別 | 進口 | 類型 | 數(shù)字式電阻測試儀 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭 DUORES 特點介紹
手持式方塊電阻測量儀,兼容 4 探頭法和無損(渦流法)探頭
手持式薄層電阻測量裝置,易于攜帶和測量,
可根據(jù)測量對象更換兩種類型的探頭(無損型和接觸型)。
可與兩種類型探頭(無損型和接觸型)互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。
只需放置/應(yīng)用探頭即可自動測量
電池連續(xù)工作時間:24小時(*使用電池時)
顯示數(shù)據(jù)數(shù):最多100條(*從最新數(shù)據(jù)開始顯示)
保存數(shù)據(jù)數(shù):最多50,000個(*專用軟件顯示)
測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
顯示:3種顯示單位(Ω/□、S/□、n/m[金屬膜厚度換算])、4位浮點數(shù)(0.000~9999)
日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭 DUORES 規(guī)格參數(shù)
測量目標(biāo)
薄膜、玻璃上的薄膜等
原則上任何樣品只要在測量范圍內(nèi)都可以測量。
薄膜材料(ITO、TCO等)
低輻射玻璃
碳納米管、石墨烯材料
金屬材料(納米線、網(wǎng)格、網(wǎng)格)
其他的
無論尺寸或厚度如何,均可進行測量
(*每個探頭的測量點尺寸或更大)
<測量點>
無損探頭(渦流式):φ25mm
接觸探頭(4探頭型):9mm(針距3mm)
手持式方塊電阻測量儀,兼容 4 探頭法和無損(渦流法)探頭
手持式薄層電阻測量裝置,易于攜帶和測量,
可根據(jù)測量對象更換兩種類型的探頭(無損型和接觸型)。
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