日本JEOL鎢燈絲掃描電鏡燈絲
日本JEOL鎢燈絲掃描電鏡燈絲
用于電子探針 JXA-iHP200F 機器
核心參數
儀器種類：落地式/傳統大型
電子槍種類：熱場發射
產地類別：進口
二次電子圖象分辨率：2.5nm
放大倍數：40-300,000
加速電壓：1-30kV
背散射電子圖像分辨率：高襯度
最大樣品尺寸：100mmX100mmX50mmH
樣品室可拓展接口數量：多個
樣品臺：五周馬達驅動
檢測器系統：背散射探頭、波譜儀、能譜儀
電子探針顯微分析儀越來越多地被用作鋼鐵、汽車、電子元件和電池材料等各種工業領域的研發和質量保證工具。 它還廣泛應用于地球和行星科學以及材料科學，
并有望為各種前沿研究做出貢獻，例如礦物和材料研究等資源和能源研究，以及各種新材料的材料研究。 相應地，在保持較高的局部痕量元素分析性能的同時，
要求每個人都“輕松"和“快速"地使用儀器。
JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA，經過進一步改進，可滿足這些需求，并使從觀察到分析的操作更加高效。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer的縮寫。
電子探針是電子光學產品中*進行準確定量分析的儀器，利用波譜的高分辨率和能譜的高速度，可以很快將材料中的成份進行精準分析。
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