目錄:賽默飛電子顯微鏡>>透射電子顯微鏡（TEM）>> 200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
主要特點(diǎn)
選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合。
從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量（或低劑量）分析的雙 100 mm2 檢測器中，選擇您需求的 EDS 檢測器。
創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單，從而輕松獲得高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)最準(zhǔn)確的定量。
添加斷層掃描或原位樣品架。快速攝像機(jī)、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實(shí)現(xiàn) 3D 成像和原位采集。
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡，可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。
所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進(jìn)行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作。實(shí)驗(yàn)可重現(xiàn)，使您可以專注于研究，而不是工具。
4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進(jìn)行實(shí)時數(shù)字縮放。
更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰(zhàn)性的空間中使用此工具，同時降低基礎(chǔ)設(shè)施和支持成本。
| TEM |
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| 操作 系統(tǒng)XX 單元 |
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| 真空系統(tǒng) |
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| STEM 成像 |
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| 能量色散 X 射線光譜 (EDS) |
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| 電子能量損失光譜 (EELS) |
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| 槍亮度 200 kV |
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