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超聲波影像裝置

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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 FineSAT Ⅴ
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2024-03-28 08:28:58瀏覽次數:459

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產品簡介

產地類別 國產 價格區間 面議
應用領域 化工,電子
超聲波影像裝置 FineSAT Ⅴ提供利用超聲波的反射、穿透特性非破壞檢測半導體、電子零部件內部的細微結構、缺陷并將其轉換為圖像的裝置——“FineSAT 系列"。

詳細介紹

FineSAT Ⅴ超聲波影像裝置介紹:

測定時間至多縮短25%*2通過超聲波高精度、高速檢查半導體、電子零部件。

提供利用超聲波的反射、穿透特性非破壞檢測半導體、電子零部件內部的細微結構、缺陷并將其轉換為圖像的裝置——“FineSAT 系列"。

為了應對近年來的需求高度化,強化以往機型“FineSAT Ⅲ"的功能,開發了能進行更高精度、更高速的測定、檢查的“FineSAT Ⅴ"。

“FineSAT Ⅴ"將獨自開發的數據處理軟件、為高速處理大量數據而新采用的64bit處理系統和高速、高精度掃描儀組合在一起,縮短了檢查、解析時間。

特點:

超聲波影像裝置FineSAT Ⅴ采用提高了解析能力的64bit處理系統。標準配置可保存、處理4億點超聲波測定的數據,選購配置*1時,可保存、處理20億點超聲波測定的數據。 這樣,以往使用FineSAT Ⅲ時,對8英寸的晶圓進行1次測定并轉換成圖像時的*小測定間距為40 µm,而現在使用FineSAT Ⅴ,標準配置能以20 µm的微小間距取得數據并轉換為圖像,選購配置時,能以10 µm以下的微小間距取得數據并轉換為圖像,所以1次掃描就可完成大樣品的詳細測定。 另外,還可進行支持高精度解析、評價的多種圖像顯示。

掃描儀的*大掃描速度提高到2,000mm/s,縮短了檢查時間

測定晶圓等大樣品時,掃描儀的掃描速度對測定時間的影響很大。 FineSAT Ⅴ除了采用高速掃描儀,還將超聲波脈沖的發生周期降低到1/2,這樣,測定時間縮短了25%*2。

除了加減速時,掃描儀的*大掃描速度提高到2,000mm/s*3,通過新設計的高剛性框架抑制裝置的振動,所以高速掃描也能獲得鮮明的圖像。


考慮了設置場所、作業性的裝備
考慮在潔凈室內的使用的情況,掃描儀的門采用上彈方式,同時,作為門的選購件,還準備了防靜電型透明板,提高了防塵性。
為了設置樣品、維護設備時可順暢拆裝臺面、框架,前面的下部窗口可向下180°全開。
本體操作部位采用防靜電板,抑制操作員靜電的影響。
本體電源ON就可進行升降機的升降操作。不用啟動FineSAT軟件就可動作。

標準裝備便攜控制器。 以往,移動掃描儀內的探頭時,要用鼠標或鍵盤操作顯示器畫面內的按鈕,來回移動視線,查看、操作探頭和監視器或鍵盤。

如果使用便攜控制器,不用離開視線,就可對探頭位置進行微調整。

配備23英寸顯示器,大幅提高數據解析等的視認性、作業性。
可選擇雙顯示器。

*1GUIPC為選購件的情況。

*2與本公司以往機型相比,因條件而有所不同。

*3因測定條件不同,*大掃描速度可能受到限制。



功能:采用的64bit處理系統,大幅強化解析功能。

FineSAT Ⅴ規格:

型號FSP8ⅤFSP12Ⅴ
探頭頻率(MHz5~2005~300
*高頻率(MHz500
有效行程(X×Y×Z)(mm350×350×80
*大掃描速度(mm/s2,000
*多測定點數(點)標準:4億
GUIPC選購件時:20億
外形尺寸(W×H×D) (mm1,590×1,300×940(門關閉狀態)
質量(kg約470
電源(電壓/電流/頻率)AC100V/15A/ 50/60Hz
■ 高分辨率波形顯示

能將超聲波的測定時間單位設定為以往的1/4,所以深度方向的分辨率提高到了4倍。

不斷細微化、多層化的電子裝置的薄層內的缺陷、層間剝離的檢測、深度位置信息的精度提高。


■ 多焦點
通過掃描時連續改變焦點位置的功能,1次測定就可獲得對焦不同的多個深度的圖像,所以能防止漏看缺陷。

■ 多閘門縮略圖顯示
對于通過多閘門測定的多個不同信息的圖像,可生成縮略圖,轉換為容易選擇的一覽顯示。
縮略圖圖像可單獨變更調色板。

■ 覆蓋物顯示(反射圖像/透射圖像重疊)
可重疊顯示通過反射法/透射法同時測定取得的2個圖像。另外,對于顯示的圖像,可調整透明度,所以可設定為容易判斷的圖像。

■ 作為選購件,準備了圖像銳化、體積圖像、孔隙瀏覽器等軟件

可與圖像銳化軟件(對超聲波信號劣化進行補正,使圖像更加鮮明)、體積圖像軟件(在測定后將收集的波形數據解析為測定圖像和波形)、孔隙瀏覽器軟件(顯示孔隙(缺陷)后進行合格與否判定、統計處理)等高度的解析軟件組合。


■ 追隨掃描功能
這種掃描方式可適于與不平整的彎曲晶圓、扭曲的被檢體。
掃描時可追隨被檢體的表面。






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