HAST非飽和加速壽命試驗箱特點：

自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。

圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內之純凈度。

臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

箱內壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長packing壽命。

圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。

hast非飽和加速試驗箱適用測試標準：

JESD22-A102 無偏壓高壓蒸煮試驗 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應力試驗（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗-濕熱試驗 太陽能光伏組件 減少試驗時間

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術，主要應用于芯片行業(yè)，用于模擬芯片在實際使用中可能遇到的環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境。通過這種測試方法，可以在短時間內檢驗芯片的可靠性和壽命，從而避免在產品投放市場后出現潛在問題。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱的工作原理是將待測芯片置于高溫高濕的環(huán)境中，以一定的時間間隔進行加熱和加濕，模擬長時間使用后的可能問題。通過這種模擬環(huán)境的測試方法，可以快速發(fā)現芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而提高產品的可靠性和耐用性。

在具體操作中，HAST濕熱壽命老化箱的時間范圍可調，可以在0小時至999小時內進行測試。這種靈活性使得測試人員可以根據具體需求和產品特性設置合適的測試時間，從而更好地評估產品的性能和可靠性。

HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的濕度分布均度控制在±3%RH，確保每個測試樣本都能得到一致的測試條件。這種均度控制對于準確評估產品的性能和可靠性至關重要。

HAST穩(wěn)態(tài)濕熱老化箱作為一種主流的加速老化測試技術，為提升產品的質量和可靠性提供了有效的手段。通過模擬環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，可以在短時間內快速發(fā)現芯片的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，從而及早采取措施進行改進和優(yōu)化。此外，HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱的靈活性和均度控制使得測試人員可以根據具體需求對產品進行全面評估，確保產品的性能和可靠性達到預期水平。

需要注意的是，雖然HAST穩(wěn)態(tài)濕熱壽命老化箱可以模擬環(huán)境，但并不能代表實際使用的所有情況。因此，在產品開發(fā)過程中，除了使用HAST濕熱壽命老化箱進行加速老化測試外，還應結合實際情況和其他測試方法，對產品進行多角度、的評估，以確保產品的質量和可靠性達到水平。

在未來的電子產品設計中，質量和可靠性將成為越來越重要的考量因素。而HAST穩(wěn)態(tài)壽命老化箱作為一種主流的加速老化測試技術，將在提升產品質量和可靠性方面發(fā)揮更加重要的作用。