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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,電子 |
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OMQ100-088系列技術規格
OMQ100-016系列技術規格
OMQ100-03系列技術規格
青島閃測儀器介紹
大視野影像閃測、高精度、全自動,開創快速測量新理念,
通過將遠心成像與智能圖像處理軟件的結合,
任何繁瑣的測量任務,都變得無比簡單。
只需把工件放置到有效測量區域,然后輕輕按一鍵,
工件所有二維尺寸瞬間完成測量。
應用行業
廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、印刷電路板、醫療器械、鐘表、刀具等尺寸較小的產品及零部件的批量快速測量。
青島閃測儀器特點
1.打破尺寸測量的常規。
2.大口徑高景深,實現全視野范圍成像清晰,超低畸變。
3.高分辨率數字相機。儀器采用1200萬~4300萬像素高分辨率數字相機。
4.軟件采用*的20:1亞像素圖象邊緣處理。
5.小二乘法回歸處理可自動祛除毛刺和異常點,將對特征位置上的影響降低到低。
6.自動識別工件、無需定位。
7.高效的批量測量。
測量范圍內一次性可測量大于20000個尺寸,100個尺寸測量時間小于1秒,大幅縮短測量時間,提高測量效率。
8.多個工件任意擺放,自動識別,批量測量。
軟件介紹
*自主研發,軟件界面簡潔、功能強大,極易學習;采用我司自主研發的畸變校正技術,保證在視野的各位置、各角度測量結果穩定精準;自主研發的圖像拼接技術,保證拼接誤差小于0.003mm。
(特殊軟件功能可接受定制 )
用戶程序:
(一)自動匹配工件,任意放置,一鍵測量。可自動搜索匹配并調出用戶程序。可框選建立匹配、多個位置框選組合建立匹配、用測量元素建立匹配、可導入CAD建立匹配??山⒊绦蚪M,實現工件多個面翻面測量。
(二)全面的測量元素:
點、高點、線、高線、圓(中心坐標,半徑、直徑、真圓度、周長、面積,大半徑、小半徑)、弧、矩形(中心坐標,長、寬、周長、面積)、橢圓(中心坐標,長軸、短軸、周長、面積)、鍵槽(中心坐標,長、寬、周長、面積)、導入CAD輪廓掃描比對、輪廓PV、面積對比、圓柱直徑、密封圈(通過周長計算半徑、密封圈大半徑、小半徑、厚度)、測量結果再計算(大值、小值、平均值、求和)、二維碼識別、條碼識別。
(三)標注:
距離、X距離、Y距離、半徑、直徑、角度。
(四)形狀誤差評定:
直線度、圓度。
(五)位置誤差評定:
平行度、垂直度、對稱度、同心度、位置度。
(六)坐標系轉換
笛卡爾坐標(X,Y)與極坐標(R,θ)可方便選擇??杉磿r轉換測量值的基本單位mm、inch、mil。 坐標平移、坐標旋轉,建立工件坐標系。
(七)測數據
可以自定義EXCEL模板,可以輸出單元格。軟件自帶CPK模板,可以計算Mean、Maximum、Minimum、Cp、Cpkl、Cpku、Cpk。
(八)其他
1、軟件語言:多國語言可選,語言包開放,可定義翻譯修改。
2、 圖像和繪圖區共用,所見即所得,可自定義:顏色、線寬、字體大小、背景顏色。
3、對焦輔助、燈光輔助功能,減少人為誤差。
4、合格/不合格(OK/NG),并報警提示,可語音輸出:OK、NG。
5、 可快速掃描輪廓,并導出到CAD。
6、 可選配IO卡,外觸發測量并OK NG 信號輸出。
(九)SPC:
包括:直方圖、Cpk趨勢圖、X控制圖、Xbar-R控制圖、Xmedian-R控制圖、X-Rs控制圖。
一鍵式測量儀的優勢
1、友好操作,低成本
提高操作效率、降低人工成本、避免人為誤差
減少試樣固定、擺放、校位、對焦、調光、運動控制,視野范圍內批量自動測量等提高測量效率。
2、操作培訓簡便、使用門檻低、測試效率高,可節省人工成本
3、測量誤差小。避免操作方式、試樣擺放、測量順序等人為失誤因素,有效消除因人為造成的測量誤差