產品展示
SJ-210硅片粗糙度測試儀
【簡單介紹】
【詳細說明】
硅片粗糙度測試儀用途:
用于太陽能硅片粗糙度的測量,已有客戶為公元太陽能,煜輝陽光,鑫友光伏,雙鴿新能源等
硅片粗糙度測試儀
平移范圍 17.5mm ( 5" )
測量范圍 350μm ( ±150μm ) [12000μinch ( ±6000μinch ) ]
驅動 / 檢測元件 探測儀 :178-390/178-395
測頭 : 金剛石
測量力 :4mN/0.75mN
探測方式 : 微感應
評定輪廓 P , R
估計參數(shù) Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr
數(shù)字過濾 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50%
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm
波長 λS 2.5,8μm
取樣長度( L ) 0.25,0.8,2.5mm
顯示 :彩色 LCD
打印機:外置
數(shù)據(jù)輸出 通過 RS232C 接口 /SPC 輸出
電源通過 AC 適配器 / 電池(可充電)
尺寸 62×156.5×52mm
重量 0.48kg
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