首頁>>上海萊誼納米科技有限公司>>產品展示>>粒度儀
全進口激光粒度分析儀 參考價：面議
專為復雜體系提供高精度粒度解析方案儀器型號：Nicomp N3000 進口激光粒度分析儀工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering,...
多功能自動計數粒度分析儀 參考價：面議
AccuSizer AD系列產品自動稀釋顆粒計數分析檢測儀是創先使用自動稀 釋技術來對樣品進行檢測，且提供高分辨率的粒徑分析儀。AccuSizer AD系 列產...
納米激光粒度儀 參考價：面議
納米激光粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-1...
ZETA電位分析儀 參考價：面議
ZETA電位分析儀工作原理：粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原...
PSS光阻法粒度儀 參考價：面議
PSS光阻法粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm...
大乳粒分析儀 參考價：面議
大乳粒分析儀工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm
高濃度顆粒計數 參考價：面議
高濃度顆粒計數：只需通過鼠標的單擊操作，即能幫助用戶在短時間 內完成從進樣到檢測，完成清洗系統的所有操作，使用戶獲得重要的粒徑分布信息。
ZETA電位粒度分析儀 參考價：面議
ZETA電位粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase...
光阻法顆粒計數器 參考價：面議
光阻法顆粒計數器型號：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀，工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle ...
粒度及zeta電位分析儀 參考價：面議
粒度及zeta電位分析儀工作原理：粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光...
zeta電位及粒度分析儀 參考價：面議
zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phas...
激光顆粒計數器 參考價：面議
激光顆粒計數器型號：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀，單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optica...
zeta電位分析儀測粒徑 參考價：面議
zeta電位分析儀測粒徑工作原理：粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光...
激光納米粒度儀 參考價：面議
激光納米粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-1...
審計最終粒度儀 參考價：面議
審計最終粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-1...
大粒子計數器 參考價：面議
大粒子計數器工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍：0.5 μm – 400 μm
全自動顆粒計數/粒度分析儀 參考價：面議
審計最終粒度儀-全自動顆粒計數/粒度分析儀儀器型號：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動顆粒計數/粒度分析儀工作原理：單顆粒光學傳感技術（Si...
Zeta電位與粒徑分析儀 參考價：面議
專為復雜體系提供高精度粒度解析儀器型號：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀工作原理：粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Sc...
不溶性微粒分析儀 參考價：面議
儀器型號：PSS A2000 780 SIS 不溶性微粒分析儀工作原理：光阻法[Light Obscuration（LO）, Light Extinction（...
4