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首頁>>安徽智微科技有限公司>>產品展示>>芯片表征設備

  • 微納結構三維形貌測量儀 參考價：面議

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀，基于白光干涉掃描原理，以光波長作為測量基準，利用納米級高精度掃描系統結合具有自主知識產權的高精度解析算法，實現...
    型號： 廠商性質：生產商所在地：合肥市 對比
    形貌測量儀微納結構光學表面分析儀
    2024/6/4 13:47:592338

  • 薄膜測厚儀 參考價：面議

    薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環境使用；可與大行程工件臺配合，實現大面積膜厚自動測量。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：合肥市 對比
    測厚儀膜厚儀薄膜測厚儀
    2024/6/4 13:45:373294
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