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目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>霍爾電阻遷移率>> 非接觸Hall和方塊電阻測試系統

非接觸Hall和方塊電阻測試系統
  • 非接觸Hall和方塊電阻測試系統
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
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  • 品牌 波銘科儀
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 產品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-11-08 14:47:17瀏覽次數:164評價

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非接觸Hal和方塊電陽測試系統,可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。

Capability:

  • 快速,非破壞

  • 霍爾系數

  • 無需制樣

  • 方塊電阻

  • 霍爾遷移率

  • 載流子濃度/密度

非接觸Hall和方塊電阻測試系統







上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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