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目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>深能級瞬態譜測試>> 深能級瞬態譜測試儀

深能級瞬態譜測試儀
  • 深能級瞬態譜測試儀
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
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具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 波銘科儀
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
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  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-11-08 14:31:39瀏覽次數:175評價

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深能級瞬態譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段,它可以測定各種深能級相關參數,如深能級,俘獲界面,濃度分布等。

Capability:

  • High sensitivity 高靈敏度

  • C-V characterization 深能級C-V測試

  • Capture cross section measurement 俘獲界面測試

  • Optical injection 光注入

  • Conductance transient measurements 瞬態電導測試

  • Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基礎測試

  • Cryostats LN2,低溫致冷

深能級瞬態譜測試儀 深能級瞬態譜測試儀








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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