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產品簡介
詳細介紹
日本尼康CMM第三代激光掃描測頭，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭 LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更精確地測量產品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。
革命性第三代激光掃描測頭
精度可媲美接觸式測頭
LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更精確地測量產品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。
優點
精度可媲美接觸式測頭
采用激光掃描測頭技術的 LC15Dx 達到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中，LC15Dx 達到了與使用三坐標測量機和接觸式測頭相當的精度。但與接觸式測頭不同的是，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補償誤差。掃描測頭內部裝有熱穩定器，可解決激光掃描測頭在未達到工作溫度時容易出現的不穩定和延遲問題。
操作輕松的多功能掃描
尼康 ESP3 技術可針對每個測量點實時智能調整激光設定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無需用戶干預、手動調節以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射，而高級日光濾光片則可吸收環境光。
更高的產品質量檢測水準
全局比較功能可提供產品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個部件可與 CAD 模型進行對比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關注的區域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫進行進一步的研究和分析。用戶可根據需要讓設備自動生成或簡易或詳細的測量報告。
軟件
適合各類應用的直觀軟件
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內，適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。
重要功能包括：
• CAD 編程 • 多傳感器三坐標測量機
• 擬合 • 離線編程
• 部件與 CAD 對比 • 點云測量
• 特征檢測 • GD&T 庫
• 葉片分析 • 教學編程
• 色彩報告 • 離線模擬
應用
測量高精度部件和小型幾何體
LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體（包括精細部件、半鋼性部件和高性能材料）時具有顯著優勢：
處理：生產 － 研發 － 逆向工程
方法：機械加工 － 模塑 － 模壓 － 澆鑄 － 鍛造
材料：金屬 － 塑料 － 橡膠 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料
表面處理：機械加工 － 拋光 － 電鍍 － 油漆 － 混色
結構： 剛硬 － 柔軟 － 柔韌 － 易碎
特征： 表面 － 幾何特征 － 剖面 － 截面
多傳感器三坐標測量機
結合激光掃描和接觸式探測
某些情況下，采用單傳感器技術無法測量所有特征。LC15Dx 可結合使用選購的接觸式測頭構成多傳感器三坐標多功能測量機。根據應用需求，可在相同的檢測項目中單獨或共同使用這兩項技術。在三坐標測量機平臺上加裝切換和存儲支架選購件后，可以自動切換傳感器。
升級改造
提升當前三座標測量機的能力
使用 LC15Dx 來改進您當前的三座標測量機是一種低成本高收益的解決方案。這種改進基于現有的三座標測量機控制器硬件，附之以兼容的*測頭系統，構成可進行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標多功能測量機。
LC15Dx 改進套件可用于以下三座標測量機控制器系統。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
規 格
| 探測誤差（MPEP）1 | 2.5μm (0.0001in) |
| 多測針測試（MpeAL）2 | 6μm (0.00024in) |
| 分辨率（點距） | 22μm (0.00087in) |
| 數據采集（近似值） | 70,000 點／秒 |
| 每線點數（近似值） | 900 |
| 測量溫度范圍 | 18-22°C (64.4-71.6°F) |
| 工作溫度范圍 | 10-40°C (50-104°F) |
| 預熱時間 | 0（零）秒 |
| 重量 | 370g (13oz) |
| 防護等級 | IP30 |
| 電源 | 110/240VAc, 50/60Hz 5A |
| 增強掃描測頭性能（ESP3） | √ |
| 日光濾光片 | √ |
| 測頭兼容性3 | PH10M, PH10MQ, CW43, PHS |
| 激光類型 | 2 類（670μm） |
日本尼康CMM第三代激光掃描測頭，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭 LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標測量機應用。該機器可在不影響生產周期的情況下更精確地測量產品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。