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半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備

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  • 半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 RETS-100
  • 品牌 OTSUKA/日本大冢
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2020-06-11 16:38:42瀏覽次數:935

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產品簡介

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣
半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備 對應范圍廣,從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應。

詳細介紹

半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100

<strong>相位差膜?光學材料檢查設備</strong> RETS-100

 

半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備對應范圍廣,從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應

 

產品信息

特 點

• 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
• 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
• 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

• 封入cell gap
• twist角
• rubbing角
• pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
• 空cell gap
• 相位差(復折射相位差)的波長分散
• 光學軸
• 橢圓率/方位角
• 三次元折射率/Rth/β
• 分光光譜/色度

測量對象

• 液晶cell
 - 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
 - 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
• 光學材料
 - 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)

仕 樣

型號

RETS series

樣品尺寸

20mm×20mm ~ * 

cell gap測量范圍

0.1μm ~ 數10μm

cell gap重復性

±0.005μm

檢出器

多通道分光光度計

測量波長范圍

400nm ~ 800nm

光學系
    透過用偏光子unit

偏光光學系
    消光比 10-5內置Gran-tomson prism(方解石)
    自動旋轉(角度精度0.1°)、自動裝卸機構

測量口徑

φ2, φ5, φ10 (mm)

光軸傾斜機構

-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

* 大型玻璃基板也可用(2000mm×2000mm以上)

測量案例

相位差與液晶層間隙值

item_0008retsseries_sub001.jpg

液晶面內分布圖

item_0008retsseries_sub002.jpg

 

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