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多通道光譜儀

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  • 多通道光譜儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 MCPD
  • 品牌 OTSUKA/日本大冢
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2020-06-12 16:16:03瀏覽次數:1217

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產品簡介

按探測器 CCD 分辨率 0.1nmnm
光譜范圍 紫外,220nm~1600nmnm 光譜范圍 紫外,220nm~1600nmnm
價格區間 面議 應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣
雜散光 1.8E^-5(450~550nm)
MCPD系列多通道光譜儀能對紫外、可視、紅外區域的光譜進行高速、高靈敏度的檢測。共12個波長,可配合客戶的需求與測量用途,選擇適合的檢測器。

詳細介紹

多通道光譜儀MCPD系列

 

膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供豐富選配套件以及客制化光纖,

可依據安裝現場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環境下的即時測量系統

 

分光光譜儀種類

  • MCPD-9800:高動態范圍分光

  • MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

  • MCPD-7700:高感度分光

膜厚測量

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

02.jpg03.jpg

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

04.jpg

影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

01.jpg02.jpg

LB膜測量

01.jpg

蒸餾膜測量

02.jpg03.jpg

多點膜厚測量

  • 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

  • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

01.jpg02.jpg

 

 

 

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