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非接觸式膜厚儀

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  • 非接觸式膜厚儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 EmiosAT-1500
  • 品牌 OTSUKA/日本大冢
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價 收藏產品

更新時間:2020-06-16 10:58:15瀏覽次數:2339

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產品簡介

產地類別 進口 價格區間 20萬-50萬
應用領域 醫療衛生,化工,能源,電子,汽車
非接觸式膜厚儀設備操作簡單,放置樣品即可測量的。一步到位。非接觸、高精度的測量不透明·粗糙面·易變形樣品。

詳細介紹

 非接觸式光學膜厚儀

 

非接觸式膜厚儀Eimos設備操作簡單,放置樣品即可測量的。一步到位。

縮短檢查工程,無標準曲線,精度高,分辨率高,輕松測量樣品的厚度。

光學方式為大冢電子*,不僅外形小巧,無論透明、粗糙還是易變形的樣品,都可以實現非接觸式的高精度測量。

 

非接觸式膜厚儀特點:

  • 非接觸式測量不透明、粗糙,易變形的樣品
  • 反復性,再現性高
  • 無標準曲線也可知道厚度
  • 測量徑很小,不受斑點的影響
  • 樣品位置無需調整,放進去即可。
  • 穩定性高,不會產生誤差,所以誰都能操作。
  • 光學方式原理所以安全


式樣

 AT-1500
厚度范圍10μm~1.5mm
重復性0.1μ(2σ)以下(測量1nm的guage black)
樣品尺寸

小Φ10mm,大100mm

(測量位置在中間部)

測量徑約50μm
測量時間1秒以下
裝置尺寸·重量

W300×D364×H400(mm)·20(kg)

(本體部:開發過程中可能發生變更)

電源                                AC100-220V/200V

 

構成圖/原理

1)構成圖

任何人都會使用大塚電子非接觸式光學膜厚儀 Eimos進行測量

1STEP-01.jpg

1STEP-02.jpg

2)原理

將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)
ncftm2_2.gif

比較測量方法

樣品例子和測量方法的比較

 非接觸光學膜厚儀接觸式膜厚儀X線式膜厚儀変位計
樣品凝膠片×
不織布××
金屬板
樹脂
多孔質×
陶瓷×
紙?木×
測量

測量時間○ 高速
非接觸測量○ 非接觸×
前處理○ 不要×

測量案例

ncftm4-1.gif

ncftm4-2.gif

ncftm4-3.gif

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