產地類別 | 進口 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
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應用領域 | 醫療衛生,化工,能源,電子,汽車 |
產品簡介
詳細介紹
非接觸式膜厚儀Eimos設備操作簡單,放置樣品即可測量的。一步到位。
縮短檢查工程,無標準曲線,精度高,分辨率高,輕松測量樣品的厚度。
光學方式為大冢電子*,不僅外形小巧,無論透明、粗糙還是易變形的樣品,都可以實現非接觸式的高精度測量。
非接觸式膜厚儀特點:
- 非接觸式測量不透明、粗糙,易變形的樣品
- 反復性,再現性高
- 無標準曲線也可知道厚度
- 測量徑很小,不受斑點的影響
- 樣品位置無需調整,放進去即可。
- 穩定性高,不會產生誤差,所以誰都能操作。
- 光學方式原理所以安全
式樣
AT-1500 | |
厚度范圍 | 10μm~1.5mm |
重復性 | 0.1μ(2σ)以下(測量1nm的guage black) |
樣品尺寸 | 小Φ10mm,大100mm (測量位置在中間部) |
測量徑 | 約50μm |
測量時間 | 1秒以下 |
裝置尺寸·重量 | W300×D364×H400(mm)·20(kg) (本體部:開發過程中可能發生變更) |
電源 | AC100-220V/200V |
構成圖/原理
1)構成圖
任何人都會使用大塚電子非接觸式光學膜厚儀 Eimos進行測量
2)原理
將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)
比較測量方法
樣品例子和測量方法的比較
非接觸光學膜厚儀 | 接觸式膜厚儀 | X線式膜厚儀 | 変位計 | ||
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樣品 | 凝膠片 | ○ | × | ○ | ○ |
不織布 | ○ | × | ○ | × | |
金屬板 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
樹脂 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
多孔質 | ○ | △ | ○ | × | |
陶瓷 | ○ | ○ | ○ | × | |
紙?木 | ○ | ○ | ○ | × | |
測量 條 件 | 測量時間 | ○ 高速 | ○ | ○ | ○ |
非接觸測量 | ○ 非接觸 | × | ○ | ○ | |
前處理 | ○ 不要 | ○ | × | ○ |
測量案例
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