產地類別 | 進口 | 產品種類 | 正置 |
---|---|---|---|
價格區間 | 5萬-10萬 | 目鏡 | 10 |
配備圖像分析系統 | 是 | 物鏡 | 100 |
應用領域 | 石油,地礦,能源,建材,電子 | 總放大倍率 | 1000X |
產品簡介
詳細介紹
BX41M奧林巴斯金相顯微鏡擁有ESD防靜電功能,可以保護電子設備免受靜電、人體及實驗室內的周邊環境或商店地面中的靜電的影響。
BX41M奧林巴斯金相顯微鏡特點:
1、暗視場可以讓用戶觀察來自樣本散射和衍射的光線。光源的光線會先穿過照明裝置中的環形光學照明器件,然后在樣本上聚焦。樣本上的光線只是由Z 軸上的瑕疵反射形成的。因此,用戶可以觀測到比光學顯微鏡分辨極限更小的、8 nm 級的微小劃痕和缺陷。暗視場適合檢測樣本上的微小劃痕及瑕疵和檢查表面光滑的樣本,包括晶圓。
2、該顯微觀察技術所使用的偏振光是由一組濾鏡(檢偏振器和起偏振器)產生的。樣本特征會直接影響系統反射光的強度。該觀察法適用于觀察金相組織(例,球墨鑄鐵中石墨的生長圖案)、礦物、LCD 和半導體材料。
3、DIC 是一種顯微觀察技術,可以將明視場觀察法中無法檢測到的高度差異,用增強的對比度以浮雕或三維圖像的形式表現出來。該項基于偏振光的技術,擁有三個專門設計的棱鏡可供選擇以滿足用戶的需求。該觀察法適用于檢測高度差異極其微小的樣本,包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。
4、該項技術適用于觀察那些在受到專門設計的濾鏡(可以按照檢測需要制作)照明時會發出熒光(發出不同波長的光線)的樣本。該方法通過熒光染色,應用于觀測半導體晶圓表面的污物、抗蝕劑的殘渣和裂痕的檢測。可以添加選購的復消色差光源聚光透鏡系統,從而為可見光到近紅外線范圍內的色差進行補償。
5、對使用了硅片、玻璃等易透射紅外線的電子設備的內部進行無損檢測時,IR 觀察十分有效。IR 物鏡也可用于近紅外線技術,如:拉曼光譜儀和YGA 激光修復應用。
6、OLYMPUS Stream 擁有各種濾鏡,可用于邊緣檢測、平滑處理和其它操作。使用處理濾鏡在拍攝的圖像上進行增強和修改處理后,圖像的特征變為可視化。為達到效果,可使用預覽圖檢查或調整濾鏡的效果。
7、對于透明樣本,如,LCD、塑料和玻璃材料,可通過使用各種透射光聚光鏡實現真正的透射光觀察。使用透射光可以在明視場、暗視場、DIC 和偏振光中對樣本進行成像和檢查--所有這些都在一個便捷的系統里。