美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統：UHV 

除了表面分析組件外，LK Technologies還專門設計和構建完整的特高壓系統，這些系統通常結合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。

這些系統的常見元件是精密UHV室，主泵（通常是離子泵），輔助泵（通常是渦輪分子），精密樣品操縱器，安裝框架和真空計量。客戶通常要求的可選組件是快速樣品引入系統（加載鎖定）和烘烤控制。

請聯系LK獲取更多信息，并討論您的自定義系統要求。多探針分析系統是全球實驗室提供的一個例子：

美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統多探針分析系統，包括XPS分析，X射線單色儀，半球形分析儀，AES，ISS，多通道HREELS和帶有快速樣品加載系統的完整樣品制備室。

探針分析儀：1.進行1微米內B-U的各元素定量分析 2.20～20萬倍掃描圖像觀察 3.X射線能譜快速定量分析 4.陰極射線致發光分析應用范圍： 用于對地質、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、納米材料等機材料的分析。可解決地質、冶金、有色、材料、機械等領域內的許多科研、生產等重大實際問題。

各種材料的成分、結構解析，包括金屬材料、電子材料、表面材料、超硬材料、硅酸鹽材料、化工材料、光學材料、生物材料等，如催化劑、焊料、紅外窗口、金剛石膜、電子開關材料、光導纖維等的解析。 特種金屬及其制品的分析鑒定與純度分析，超細材料、納米材料、磁粉的粒度測定。鍍層材料的成分與厚度的測定，各類寶玉石的分析與質量評估，金、銀、鉑貴金屬制品的分析與鑒別，各類非金屬礦產品的質量評估，生物、醫學、農業中的無機材料和有機材料中的無機鹽分析等。