晶圓檢測儀 參考價：面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設備，廣泛應用于半導體、數據存儲和光伏產業。該設備具備多種尖duan技術，能夠提供高精...
光學計量儀 參考價：面議
KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學計量儀是一種先進的半導體晶圓測試和計量設備，主要用于精確測量半導體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統采...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設備，廣泛應用于生產及研發領域。該設備具有高精度和可重復性的特點，能夠提供精...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款先進的晶圓檢測和計量設備，廣泛應用于半導體制造業。該系統利用KLA-Tencor創新的Streak&t...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款先進的晶圓測試和計量設備，主要用于半導體行業的高精度檢測。該系統采用超紫外（UV）模式匹配技術和最新一代的...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設備，通過其先進的檢測技術、自動化功能和模塊化設計，能夠顯著提升半導體制造過程...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統，專為半導體行業設計。該系統具有多種功能和特點，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統。該系統配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統，廣泛應用于半導體制造行業。該系統具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統，具有多種先進技術和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規格參數：用途：主要用于圖案化晶...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設備，廣泛應用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統采用先進的...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統，廣泛應用于半導體制造領域。該設備由KLA-Tencor公司生產，具有多種功能和特...
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