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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 電子 | 自動化度 | 半自動 |
鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 測試噪聲小于5E-13A 可擴展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴展凹視鏡 。
鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 用于拉曼光譜測試 探針腔體可達真空0.1pa(機械泵) 1E-3Pa(分子泵)可用于光學 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學測試
低溫真空探針臺是一種利用液氦/液氮快速制冷并為晶片、器件和材料(薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等)提供真空和低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。該低溫真空探針臺可以對材料或器件進行電學特性測量、光電特性測量、參數測量、高阻測量、DC測量、RF測量和微波特性測量。
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