德國LANGER單通道探頭

普索貿易

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LANGER LWL Ø 2.2 mm 6 m,Lichtwellenleiter einfach 6 m 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A200-1 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A300-1 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF-R 50,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.02

LANGER LF-R 3,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.01

LANGER LF1 set,Nahfeldsonden 100 kHz bis 50 MHz 28.10.00

LANGER RF4-E set,Nahfeldsonden E-Feld 30 MHz bis 3 GHz 26.00.00

LANGER RF3 mini set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 25.00.00

LANGER RF2 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 24.00.00

LANGER RF1 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 23.00.00

LANGER PA 303 N set,Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz 29.30.00

LANGER N-BNC,Adapter 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER Case 4,Systemkoffer Nahfeldsonden 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER SMB-BNC 1 m,Messkabel SMB-BNC 00.00.11

LANGER LF-K 7,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.03

LANGER PA303N set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF opt set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF1 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF4 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF 3 mini 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF2 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF1 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A300-2 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

Langer主要型號：BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1、SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2、RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251

光纖探頭的作用是傳輸受試設備在電快速瞬變/猝發序列脈沖干擾的影響下發出的模擬信號。

A100-1 set, 單通道光纖探頭（25KHz）

A100-1 set

單通道光纖探頭（25KHz）

A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。

A100-2 set, 雙通道光纖探頭（25KHz）

A100-2 set

雙通道光纖探頭（25KHz）

A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。

A200-1 set, 單通道光纖探頭（500KHz）

A200-1 set

單通道光纖探頭（500KHz）

在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號，可以借助A200-1零電勢地顯示到示波器上，A200-1探頭包含一個傳感器，能夠快速識別到受干擾的信號。該傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。該系統適合在吸收室內監測試樣，或用于優化軟硬件的 電磁兼容性。

A200-2 set

A200-2 set

A300-1 set

Langer EMV - 模擬信號

A300-1 set

A300-2 set

A300-2 set

德國LANGER單通道探頭

在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認證機構中，使用經過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。近場 EMI 測量的問題在于使用近場探頭的測量結果和使用天線進行遠場測量的結果無法直接進行數學轉換。但是存在一個基本原理：近場的輻射越大，遠場的輻射也必然越大。所以使用近場探頭測量，實際上是一個相對量的測量，而不是精確的量測量。使用近場探頭進行 EMI 預兼容測試時，我們常常把新被測件測試結果和一個已知合格被測件的近場探頭測試（近場測試）結果進行比較，來預測EMI 輻射泄漏測試（遠場測試）的結果，而不是直接和符合EMI兼容標準的限制線進行比較。同時，測試的數值意義也不大，因為這個測試結果和諸多變量，包括探頭的位置方向、被測件的形狀等會密切相關。電磁場是由電場和磁場構成。在近場，電場和磁場共同存在，其強度不構成固定關系。以電場為主還是磁場為主，主要是由發射源的類型決定的。簡而言之，在高電壓，低電流的區域，電場大于磁場。高電流，低電壓的區域，磁場大于電場。同時在主要的EMI 測試頻段，磁場隨著距離的變化要快于電場。