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更靈活的刷式掃查器詳細動態

更有信心的腐蝕檢測、更好的C掃描成像

ZETEC公司新研發的手動掃查器，可加載多種超聲相控陣探頭，結合TOPAZ系列便攜式超聲相控陣系統可進行C掃描成像

• 主要應用于金屬平板或管道的腐蝕檢測
• 母材的缺陷檢測
• 金屬工件厚度減薄測量
• 復合材料分層缺陷

主要技術性能如下：

• 手動掃查器：小巧靈活，使用方便，單手即可完成檢測操作
• 掃查效率高，較短時間內即可完成缺陷檢測
• 兩平行編碼輪：實時記錄兩個輪子的位差，實現各個方向的準定位
• 兩種類型的編碼輪可自行更換：鐵磁性輪可進行碳鋼等鐵磁性材料的檢測，非鐵磁性輪可用于復合材料的檢測
• 兩個控制按鈕

       開始/停止數據采集：用于控制數據采集狀態

       開啟/關閉耦合泵：用于控制探頭耦合

• 實時成像效果好，從圖像可直觀看到缺陷分布情況
• 兼容多種相控陣探頭，可對不同厚度，不同類型的材料進行檢測
• 位置跟蹤：誤差小于1mm
• 適用于平板或管道掃查，最小可檢測管徑為6英寸

Paintbrush刷式掃查器詳細動態在檢測時可以得到更準的位置編碼信息，更好的成像效果，有效解決了輪式探頭掃查器容易出現的掃查步進位置的誤差和掃查重復覆蓋問題。并且在檢測過程中可以實時查看探頭位置和數據，確保檢測過程能夠很好地覆蓋所有目標區域，從而正確評估整個檢測過程，得出準確的結論。