XRF鍍層膜厚測試儀thick800a是一款通過X射線原理快速、無損測試鍍層膜厚的儀器，主要應用于金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銀……）膜厚的檢測儀，天瑞儀器是國內早研發生產XRF系列產品的廠家，XRF鍍層膜厚測試儀也是打破了國外壟斷的局面，讓客戶以的價格買到性價比的儀器，為企業降低采購成本的同時，也為國產儀器的發展做出了微薄的貢獻。

XRF鍍層膜厚測試儀thick800a性能特點

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度

標準配置

開放式樣品腔，滿足大樣品測試
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機（可以保存和實時打印）

技術指標

多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
型號：Thick 800A XRF鍍層膜厚測試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg