CME-EL   電致發光外量子效率測量系統

CME-EL電致發光外量子效率測量系統（EQE)是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建。發光材料的特征體現在它們的熒光量子產率。對于諸如有機和無機LED的發光器件，相應的物理特征表現值是外量子效率，通常通過電致發光（ELelectroluminescence）方法測量。

主要特點:

l可以測量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；

l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低；

l體積小巧：便于靈活使用及運輸；

l堅固、緊湊的設計，可以***限度減少實驗室空間；

l專業軟件，操作簡單；軟件顯示：J-V曲線、L-J曲線、LmEff-J曲線、EQE-J曲線、CIE1931 XYGraph曲線。

技術參數