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孔徑測量 詳細摘要: 孔徑測量,可以用于檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當于可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。
產品型號:IEC300 所在地:北京市 更新時間:2024-11-08 在線留言
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詳細摘要: 孔徑測量,可以用于檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當于可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。
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